鍍錫測厚儀的測量方法主要有：楔切法,，光截法，電解法,，厚度差測量法,，稱重法，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。

   X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小,，X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

   隨著技術的日益,，特別是近年來引入微機技術后,，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了步,。測量的分辨率已達0.1微米,，精度可達到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。

鍍錫測厚儀以其快速、無損,、現(xiàn)場測量等優(yōu)點,，已在冶金,、建材、地質(zhì),、環(huán)保,、商檢、考古,、醫(yī)學等領域得到迅速推廣和應用,。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關的重要指標,。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損,、在線,、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點,。

天瑞儀器鋁鍍錫 測厚儀Thick 800A

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可***定位測試點,，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層,。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應校正模型,。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg