| 產(chǎn)地類(lèi)別 |
國(guó)產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
綜合 |
天瑞鍍層檢測(cè)儀A主要用于檢測(cè)金屬電鍍層厚度（如鍍金,、鍍銀、鍍鎳,、鍍鋅、鍍錫,、鍍銅,、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測(cè),、來(lái)料管控方面,，得到廣泛的應(yīng)用。
天瑞鍍層檢測(cè)儀A主要用于檢測(cè)金屬電鍍層厚度（如鍍金,、鍍銀,、鍍鎳、鍍鋅,、鍍錫,、鍍銅、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測(cè),、來(lái)料管控方面,，得到廣泛的應(yīng)用。
天瑞鍍層檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,，□Fe/Ni,，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au,，□Fe/Cu/Ni,，
□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au,，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni,，□Cu/Ag，□Cu/Au,，□Cu/Sn,，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag,，□Cu/Ni/Au,，□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag,，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag,，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,，plastic/Cu/Ni/Cr
儀器配置
1 硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：
①X光管
②半導(dǎo)體探測(cè)器
③放大電路
④高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
⑤高清晰攝像頭
⑥高壓系統(tǒng)
⑦上照,、開(kāi)放式樣品腔
⑧雙激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2 軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計(jì)算機(jī),、打印機(jī)各臺(tái)
計(jì)算機(jī)（品牌，P4,，液晶顯示屏）,、打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)）
4 資料：使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）,、出廠檢驗(yàn)合格證明,、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各份,。
5 標(biāo)準(zhǔn)附件
準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中）
技術(shù)指標(biāo)
1.型號(hào)：Thick 800A
2.元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
3.同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層,。
4.分析含量般為ppm到99.9% ,。
5.鍍層厚度般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
6.任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
7.相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
8.多變量非線性回收程序
9.環(huán)境溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
10.電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
11.外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
12.樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
13．重量：90kg
性能特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)
1.高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
2.采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
3.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
4.定位激光確定定位光斑,，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
5.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
6.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,，微小測(cè)試點(diǎn)更,。
7.X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠,、售后服務(wù)更方便,，維護(hù)成本更低,。
Thick800A操作流程：
1.每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick"：
用戶使用選擇“Operator"用戶名,，點(diǎn)擊“登錄"進(jìn)入軟件
2.放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后，（峰通道為1105,，計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù),，如300以上）。
3.選擇“工作曲線"
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,，則選擇Ni-Fe,；其他依次類(lèi)推
4.待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品，通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)（由圖中激光的紅斑所示）,。可以通過(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱(chēng)十字光標(biāo)）來(lái)定位該聚焦點(diǎn),，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置,。點(diǎn)擊“開(kāi)始"，輸入樣品名稱(chēng)后“確定",。
5.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。
注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí),，必須先要確定是什么鍍層,、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。
安裝要求
1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
3 工作電源：交流220±5V
4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾,。
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