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產(chǎn)品介紹

    MXY8002光電技術(shù)應(yīng)用開發(fā)綜合實驗平臺針對光電器件應(yīng)用開發(fā)而設(shè)計，由光學(xué)平臺,、數(shù)字儀表及電子元器件平臺,、線/面陣CCD相機的原理與應(yīng)用及數(shù)據(jù)采集輸入輸出端口、計算機系統(tǒng),、線/面陣CCD相機數(shù)據(jù)采集軟件等部分構(gòu)成,，平臺配備各種電源接口及0-200V高壓可調(diào)電源和0-12V 低壓可調(diào)電源，可為學(xué)生搭建各種實驗電路提供電源。學(xué)生能夠利用平臺自行搭建各種光學(xué)系統(tǒng),、光電傳感器的變換及處理電路,，完成各種關(guān)于光電技術(shù)方面的應(yīng)用開發(fā)設(shè)計，從各方面提高學(xué)生的動腦動手能力及創(chuàng)新意識,，幫助高校培養(yǎng)光電技術(shù)人才,。

 1、光學(xué)平臺

光學(xué)平臺為導(dǎo)磁材料,，可利用磁性底座與光學(xué)配件及電子元器件搭建出幾何光學(xué),、物理光學(xué)、光電檢測與光電控制等系統(tǒng),，并與儀器內(nèi)部的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相結(jié)合完成各種實驗系統(tǒng),。

2、數(shù)字儀表,、電子元器件平臺

平臺提供2塊數(shù)字電壓表,，2塊數(shù)字電流表（四位半）和1塊自動更換量程的數(shù)字照度計，這些數(shù)字儀表可以應(yīng)用在電路中進行各種電路參數(shù)的測量,。此平臺還配備各種電阻,、電容、可調(diào)電位器,、二極管,、三極管、集成運算放大器,、光電耦合器件和現(xiàn)場可編程邏輯器件（CPLD）等,。

3、線/面陣CCD相機的原理與應(yīng)用及數(shù)據(jù)采集輸入輸出端口

平臺面板上安裝有線/面陣CCD相機的原理與應(yīng)用及數(shù)據(jù)采集輸入/輸出端口,，輸入端口與平臺內(nèi)部的線陣CCD相機的數(shù)據(jù)采集卡與面陣CCD圖像傳感器的數(shù)據(jù)采集卡構(gòu)成一整套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),，通過USB總線接入計算機，完成各種測量,、振動,、掃描及各種圖像采集與處理等功能軟件的開發(fā)與設(shè)計工作。輸出端口提供線/面陣相機的數(shù)字驅(qū)動信號及模擬輸出信號,，學(xué)生可以通過示波器對這些信號進行觀察,，從而了解線/面陣CCD的工作原理與應(yīng)用，進而通過CPLD進行開發(fā)設(shè)計,，提高學(xué)生動腦能力,。

4、計算機功能軟件

平臺配備有各種功能軟件,，包括線陣CCD尺寸測量,、角度測量,、位移測量、條碼識別,、圖像掃描軟件,，面陣CCD邊緣與輪廓檢測、物體的尺寸測量,、圖像的點運算,、圖像的幾何變換、圖像采集與參數(shù)設(shè)置,、投影與差影圖像分析,、圖像的濾波與增強、形態(tài)學(xué)處理,、旋轉(zhuǎn)與縮放,、顏色識別與變換等圖像處理軟件。不但提供DEMO演示軟件還提供SDK軟件開發(fā)包,，供學(xué)生進行二次開發(fā),。

5、 計算機系統(tǒng)配置

顯示器：19英寸液晶顯示器,；內(nèi)存：2.0GB,；CPU速度高于2.4GHz；硬盤高于250G,；USB2.0接口；防水耐用鍵盤及光電鼠標(biāo),；

外形尺寸：680mm（長）×550mm（寬）×230mm（高）    重量：25kg

教學(xué)目的

1,、了解并掌握各種光學(xué)配件及其實驗的原理和應(yīng)用；

2,、了解并掌握各種光電傳感器的工作原理,、變換電路、處理電路,；

3,、了解并掌握線陣CCD的原理及其應(yīng)用；  

4,、了解并掌握面陣CCD的原理及其應(yīng)用,；

5、了解CPLD的應(yīng)用開發(fā)技術(shù),；           

6,、培養(yǎng)學(xué)生動腦動手能力及創(chuàng)新意識；

實驗內(nèi)容

在平臺配件的支持下能夠完成下述實驗內(nèi)容：

光電傳感器件原理與特性的實驗

1,、光源發(fā)光光譜特性實驗,；

2,、光源發(fā)光角度特性實驗；

3,、光度輻射度參數(shù)測量的實驗,；

4、光敏電阻特性參數(shù)及其測量,；

5,、光敏電阻伏安特性實驗；

6,、光敏電阻的變換電路,；

7、光敏電阻時間響應(yīng)特性,；

8,、光電二極管光照靈敏度的測量；

9,、光電二極管伏安特性的測量,；

10、光電二極管時間響應(yīng)特性的測量,；

11,、硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的基本特性；

12,、硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的典型特性參數(shù),；

13、測量硅光電池在反向偏置下的時間響應(yīng),；

14,、PIN光電二極管特性實驗；

15,、光電三極管光照靈敏度的測量,；

16、光電三極管伏安特性的測量,；

17,、光電三極管時間響應(yīng)的測量；

18,、光電三極管光譜特性的測量,；

19、光電耦合器電流傳輸比的測量,；

20,、光電耦合器件伏安特性的測量；

21,、光電耦合器件時間相應(yīng)的測量,；

22,、光電開關(guān)的應(yīng)用實驗；

23,、光電耦合器件的隔離特性的測量,；

24、熱釋電器件基本原理實驗,；

25,、熱釋電器件光譜響應(yīng)的測試實驗；

26,、PSD位移傳感器特性參數(shù)的測量,；

27、光電倍增管陽極暗電流Id的測量,；

28,、光電倍增管陽極光照靈敏度Sa的測量；

29,、光電倍增管的靈敏度Sa與電源電壓Ubb的關(guān)系

30,、光電倍增管的電流增益G的測量；

31,、四象限光電傳感特性實驗,；

32、雪崩光電二極管（APD）特性實驗,；

33,、測量LED正向電壓；

34,、測量LED反向電壓,；

35、測量LED的正,、反向工作電流；

36,、測量發(fā)光光源中心軸空間角,；

37、測量發(fā)光光源的半發(fā)光強度的角度,；

38,、測量發(fā)光光源中心軸與機械軸的偏差角；

39,、測量LED的發(fā)光光譜,；

40、測量LD半導(dǎo)體激光器的發(fā)光光譜,；

41,、太陽能電池實驗,；

光電檢測技術(shù)實驗

1、線陣CCD原理與驅(qū)動實驗,；

2,、線陣CCD尺寸測量實驗；

3,、線陣CCD角度測量實驗,；

4、利用線陣CCD識別條形碼,；

5,、利用線陣CCD測量物體位置和振動；

6,、利用線陣CCD進行物體掃描,；

7、光柵與莫爾條紋實驗,；

8,、利用夫瑯和費衍射進行的測量；

9,、面陣CCD原理與驅(qū)動實驗,；

10、利用面陣CCD測量物體外形尺寸,；

11,、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓；

12,、利用面陣CCD進行圖像采集與參數(shù)設(shè)置,；

13、利用面陣CCD進行投影與差影圖像分析,；

14,、利用面陣CCD進行圖像的濾波與增強；

15,、利用面陣CCD進行形態(tài)學(xué)處理,；

16、利用面陣CCD進行物體的旋轉(zhuǎn)與縮放,；

17,、利用面陣CCD對顏色識別；

18,、利用面陣CCD進行圖像信息的點運算,；

19、利用面陣CCD進行圖像的幾何變換,；

20,、利用面陣CCD進行數(shù)據(jù)采集實驗,；

現(xiàn)代光學(xué)實驗

1、用遠心照明光源測量薄凸透鏡的焦距,；

2,、位移法測量薄凸透鏡的焦距；

3,、組裝顯微鏡系統(tǒng),；

4、組裝透射式幻燈機,；

5,、透鏡組節(jié)點、焦距的測量,；

6,、雙縫干涉原理與現(xiàn)象；

7,、夫瑯和費單縫衍射原理與現(xiàn)象,；

8、夫瑯和費圓孔衍射原理與現(xiàn)象,；

9,、利用夫瑯和費衍射測量細絲直徑；

10,、菲涅耳單縫衍射原理與現(xiàn)象,；

11、菲涅耳圓孔衍射原理與現(xiàn)象,；

12,、光的偏振實驗；

CPLD應(yīng)用技術(shù)方面的實驗

1,、編寫與設(shè)計時鐘邏輯電路實驗,；

2、編寫與設(shè)計2160像元的線陣CCD驅(qū)動電路的實驗,；

3,、編寫與設(shè)計線陣CCD二值化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)邏輯電路；

4,、編寫與設(shè)計流水線上測量通過某一工位工件數(shù)量的系統(tǒng)；

 備注：客戶自行配置示波器,。