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所在地: 天津市
更新時間:2025-01-27 21:00:07
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一,、產(chǎn)品介紹
光電成像基礎與應用實訓平臺包括CCD和CMOS兩大方面,,這兩方面原理與應用是《光電技術》和《圖像傳感器應用技術》課程重要章節(jié),也是教學的難點章節(jié),,因此,,monxyuan開發(fā)了光電成像基礎與應用實訓平臺。該平臺采用搭建式,、開放式設計,,直觀展現(xiàn)了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理,,并且設置了工程實際檢測的相關實驗,。
二、教學目的
1,、了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理,;
2、了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法;
3,、了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法,;
4、了解并掌握運用面陣CCD和CMOS進行尺寸測量和圖像處理的方法,;
5,、了解并掌握學生掌握線陣CCD的幾種典型的應用;
三,、實驗內容
1,、面陣CCD 原理與驅動實驗;
2,、面陣CCD 數(shù)據(jù)采集與計算機接口實驗,;
3、面陣CCD 邊緣與輪廓檢測,;
4,、面陣CCD物體尺寸測量實驗;
5,、面陣CCD 圖像的點運算,;
6、面陣CCD 圖像的幾何變換,;
7,、面陣CCD 圖像采集與參數(shù)設置;
8,、面陣CCD 投影與差影圖像分析,;
9、面陣CCD 圖像的濾波與增強,;
10,、面陣CCD 形態(tài)學處理;
11,、面陣CCD 旋轉與縮放,;
12、面陣CCD 顏色識別與變換,;
13,、面陣CCD圖像采集程序設計;
14,、線陣CCD 工作原理與驅動波形觀測,;
15、線陣CCD 模擬輸出信號的調整,;
16,、通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進行A/D轉換和數(shù)據(jù)采集,;
17、通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進行二值化處理,;
18,、利用線陣CCD 對物體尺寸進行非接觸的實時測量;
19,、利用線陣CCD 對物體的角度進行測量,;
20、利用線陣CCD 測量物體的振動,;
21、利用線陣CCD識別一維條形碼,;
22,、利用線陣CCD掃描物體的二維圖像;
23,、利用外置相機進行實物尺寸測量
24,、用硬件提取邊緣信號的二值化
25、CMOS原理與驅動實驗,;
26,、CMOS數(shù)據(jù)采集實驗;
27,、CMOS圖像采集程序設計
28,、CMOS用于邊緣與輪廓檢測實驗;
29,、CMOS用于物體的尺寸測量實驗,;
30、CMOS用于圖像采集與參數(shù)設置實驗,;
31,、CMOS用于投影與差影圖像分析實驗;
32,、CMOS用于圖像的濾波與增強實驗,;
33、CMOS用于顏色識別與變換實驗,;
34,、擴展性實驗
(1)通過提供的CPLD程序,學生可以了解CPLD對外圍器件的控制,;
(2)有能力的學生還可以自己編程來產(chǎn)生方波,;
(3)通過提供的SDK和DEMO程序,編寫程序來采集擴展相機的數(shù)字信號,;
(4)利用擴展相機并編寫軟件進行其他如尺寸測量等實驗等,;
36,、墨水屏不同工作狀態(tài)的功耗測量實驗;
37,、墨水屏驅動顯示實驗,;
38、手勢控制墨水屏翻頁實驗,;
四,、配套文件資料
1、實驗指導書1本,;
2,、實驗軟件1套;
客戶自行配置電腦及示波器