冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備采用能模擬全陽(yáng)光光譜的氙弧燈來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研,、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn),。氙燈按光源可以分為風(fēng)冷式,、水冷式，試驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則,、GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輔射。

一、簡(jiǎn)介：冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備是金屬,、塑料、橡膠,、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法：GB/T2423.1.2,、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn),。

二,、用途 ：豪恩系列冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件,、通訊組件,、汽車(chē)配件、金屬,、塑膠等行業(yè),，國(guó)防工業(yè)、航天,、兵工業(yè),、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高,、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具,。

三,、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：GB 10589-89、GB 10592-89,、GB 11158-89,、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89,、GB 2423.2-89,、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86,、QC/T 17-92,、IEA 364-32、IEC 68-2-14等,。

四,、性能技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號(hào)：HE-LR-50/80/100/150/252/480

容量：50升、80升,、100升,、150升、252升,、480升

內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360,、500X400X400,、500X500X400、600X500X500,、700X600X600、800X800X750（MM）

外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400,、1700X2070X1500,、1700X2170X1500、1800X2270X1600,、1900X2370X1700,、2000X2570X1850（MM）

試驗(yàn)溫度范圍：S表示：-40℃～+150℃

              W表示：-55℃～+150℃

              L表示：-65℃～+150℃

低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃,、-80℃～-10℃

高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃,，升溫速率平均5℃/MIN

溫度波動(dòng)度：±2.0℃

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：10S

溫度穩(wěn)定時(shí)間：5MIN，常溫～zui低溫度5MIN,，常溫～zui高溫度5MIN

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304鏡面不銹鋼

外箱材質(zhì)：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍系統(tǒng)：冷凍機(jī)組為復(fù)疊式,，*法國(guó)泰康壓縮機(jī)或*比澤爾壓縮機(jī)，R404A,、R23A環(huán)保冷媒

冷卻方式：水冷或風(fēng)冷（可選擇）

控制器系統(tǒng)：韓國(guó)TEMP彩色觸摸式控制器或日本OYO彩色觸摸式控制器

標(biāo)配：測(cè)試1個(gè),，樣品架2個(gè)

使用電源：AC 三相 五線(xiàn) 380V 50HZ

保護(hù)裝置：無(wú)熔絲開(kāi)關(guān)，壓縮機(jī)過(guò)載保護(hù),，超溫保護(hù),，風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)，保險(xiǎn)絲

聯(lián)機(jī)軟件：R232,、485或USB接口

五,、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法,；

　　2,、GB/T2423.2-2001；

　　3,、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N,；

　　4. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86；

　　5. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86,；

　　6. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86,；

　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn),；

　　8,、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

　　9,、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn),；

　　10,、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

　　11,、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式,；

　　12、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化,；

　　10,、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；

　　11,、GB/T 2423.22-2002溫度變化,；

　　12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,；

　　13,、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。

【客戶(hù)案例】

【商標(biāo)證書(shū)】

【工廠規(guī)?！?/span>