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HD-6529-涂覆層測(cè)厚儀
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  • HD-6529-涂覆層測(cè)厚儀

舉報(bào)
貨物所在地: 北京北京市
更新時(shí)間: 2025-03-11 21:00:32
期: 2025年3月11日--2025年9月11日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

便攜式涂覆層測(cè)厚儀可快速,、無(wú)損,、精密地進(jìn)行涂,、鍍層厚度的測(cè)量,。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐,、航天航空,、化工、汽車、造船,、輕工,、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

  • 產(chǎn)品名稱:涂覆層測(cè)厚儀
  • 規(guī)格型號(hào):HD-6529

產(chǎn)品概述詳細(xì)

便攜式涂覆層測(cè)厚儀可快速,、無(wú)損,、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量,。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍,、防腐、航天航空,、化工,、汽車、造船,、輕工,、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。配置不同的測(cè)頭,,適用于不同場(chǎng)合,。根據(jù)測(cè)頭類型的不同,采用了磁性法和渦流法兩種測(cè)厚方法,。F型測(cè)頭采用磁性法,,可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵,、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅,、鋁、鉻,、銅,、橡膠、油漆等),。N型測(cè)頭采用渦流法,,可測(cè)量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁,、鋅,、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆,、塑料,、陽(yáng)極氧化膜等)。

主要特點(diǎn)

(1%+1)測(cè)值精度高

超大容量存儲(chǔ)

可外接U盤方便數(shù)據(jù)應(yīng)用

測(cè)量響應(yīng)時(shí)間短,,測(cè)值速度快

分體式設(shè)計(jì),,適用性強(qiáng),、測(cè)值穩(wěn)定

7種測(cè)頭(F400、F1,、F1/90°,、F10、N400,、N1,、CN02)可供選擇,滿足客戶多種測(cè)量需求

性能指標(biāo)

性能指標(biāo)

測(cè)量范圍

F400:0~400μmN400:0~400μm

F1:0~1250μmF1/90:0~1250μm

N1:0~1250μmF10:0~10000μm

CN02:10~200μm

測(cè)量精度

F400,、N400測(cè)頭

一點(diǎn)校準(zhǔn):±(2%+0.7)

二點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%+0.7)

F1,、F1/90、N1,、CN02測(cè)頭

一點(diǎn)校準(zhǔn):±(2%+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%+1)

F10測(cè)頭

一點(diǎn)校準(zhǔn):±(2%+10)

二點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%+10)

校準(zhǔn)方法

一點(diǎn)校準(zhǔn)/二點(diǎn)校準(zhǔn)/基本校準(zhǔn)

顯示分辨率

0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm)

1μm(測(cè)量范圍大于100μm)

重量

300g(包括電池組)

工作環(huán)境

溫度:0℃~50℃濕度:20%~90%

工作模式

工作方式

直接方式和成組方式

測(cè)量方式

連續(xù)測(cè)量/單次測(cè)量

關(guān)機(jī)方式

手動(dòng)關(guān)機(jī)/自動(dòng)關(guān)機(jī)

操作提示

音樂(lè)鈴聲,,錯(cuò)誤提示

信號(hào)處理

閾值限界

對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警

數(shù)據(jù)分析

可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析

統(tǒng)計(jì)量

平均值(MEAN)/標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)/測(cè)試次數(shù)(No.)/zui大測(cè)試值(MAX)/zui小測(cè)試值(MIN)

存儲(chǔ)

厚度值

500個(gè)數(shù)據(jù)

刪除

單個(gè)可疑數(shù)據(jù)/組內(nèi)所有數(shù)據(jù)

輸入輸出

通訊

USB

電源

電池

商業(yè)鎳氫/堿性電池1.5V

電源監(jiān)測(cè)

欠壓指示

標(biāo)配

主機(jī)1臺(tái)

測(cè)頭(N1或F1)1支

標(biāo)準(zhǔn)片5片

基體1塊

1.5V堿性電池2節(jié)

使用說(shuō)明書(shū)1本

選配

測(cè)頭

F400/N400/F10/CN02/F1/90

 

測(cè)頭型號(hào)

F400

F1

F1/90°

F10

N400

N1

CN02

測(cè)頭型號(hào)

磁感應(yīng)

渦流

測(cè)量范圍(mm)

0~400

0~1250

0~10000

0~400

0~1250

10~200

銅上鍍鉻0~40)

低限分辨力(mm)

0.1

0.1

10

0.1

0.1

1

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(3%H+0.7)

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+0.7)

±(3%H+1.5)

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(3%H+0.7)

±((1%H+1)

±(1%H+10)

±(1%H+0.7)

±(1%H+1.5)

------

測(cè)試條件

zui小曲率半徑(mm)

1

1.5

平直

10

1.5

3

平直

僅為平直

zui小面積的直徑(mm)

F3

F7

F7

F4

F4

F5

F5

F7

基體臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

0.3

0.3

無(wú)限制

            

 

測(cè)頭選用參考表(1)

 

基體覆蓋層

有機(jī)材料等非金屬覆蓋層(如:漆料、涂漆,、琺瑯,、搪瓷、

塑料和陽(yáng)極化處理等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

如鐵,、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm
F1型測(cè)頭0~1250mm

F400型測(cè)頭0~400mm
F1型測(cè)頭0~1250mm
F10型測(cè)頭0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F1型測(cè)頭0~1250mm
F400型測(cè)頭0~400mm

如銅,、鋁,、黃銅,、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于10mm

N400型測(cè)頭0~400mm
N1型測(cè)頭0~1250mm

N400型測(cè)頭0~400mm
N1型測(cè)頭0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于10mm

N400型測(cè)頭0~400mm

N1型測(cè)頭0~1250mm
N400型測(cè)頭0~400mm

 

測(cè)頭選用參考表(2)

 

基體覆蓋層

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻,、鋅,、鋁、銅,、錫,、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F1型測(cè)頭0~1250mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F1型測(cè)頭0~1250mm

F10型測(cè)頭0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F400型測(cè)頭0~400μm

F1型測(cè)頭0~1250mm

如銅,、鋁,、黃銅、鋅,、錫等有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于10mm

僅用于銅上鍍鉻

N400型測(cè)頭0~40mm

----

被測(cè)面積的直徑小于10mm

----

----

塑料,、印刷線路非金屬基體

塑料、印刷線路非金屬基體

CN02型測(cè)頭10~200mm

CN02型測(cè)頭10~200mm

 

測(cè)頭選用參考表(2)

 

基體覆蓋層

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻,、鋅,、鋁、銅,、錫,、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

覆蓋層厚度不超過(guò)100mm

如鐵,、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F1型測(cè)頭0~1250mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F1型測(cè)頭0~1250mm

F10型測(cè)頭0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400mm

F400型測(cè)頭0~400μm

F1型測(cè)頭0~1250mm

如銅、鋁,、黃銅,、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于10mm

僅用于銅上鍍鉻

N400型測(cè)頭0~40mm

----

被測(cè)面積的直徑小于10mm

----

----

塑料,、印刷線路非金屬基體

塑料,、印刷線路非金屬基體

CN02型測(cè)頭10~200mm

CN02型測(cè)頭10~200mm

 

型號(hào)參考表(3)

測(cè)頭:N

 

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