淺談絕緣電阻測(cè)試儀使用過(guò)程中有哪些常見(jiàn)問(wèn)題呢
絕緣電阻測(cè)試儀是一種常用的絕緣電阻測(cè)量?jī)x表，即方便又可靠,，被廣泛的應(yīng)用于多個(gè)行業(yè)當(dāng)中,。我們把絕緣電阻測(cè)試儀使用中常見(jiàn)問(wèn)題一一列出，希望對(duì)廣大使用者能提供幫助,。
1. 在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),，絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么,？
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小,。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過(guò)程的開始階段,，表內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電,，并逐步將電壓充到兆歐表的輸出額定高壓值。顯然,，如果試品的電容量值很大,，或高壓源內(nèi)阻很大,，這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）,。請(qǐng)注意,，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測(cè)試中是一起流入表內(nèi)的,。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小,。如：額定電壓為5000V的絕緣電阻測(cè)試儀,，若其短路輸出電流為80μA，其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ如：試品容量為0.15μF,，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時(shí)刻,，電容上的充電電流仍有11.3μA。由此可見(jiàn),，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,，若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ,。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變,，即容量小,，測(cè)試阻值大；容量大,，測(cè)試阻值小,。所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s,，R60s的試值,，應(yīng)選用充電速度快的大容量兆歐表。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求兆歐表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA,、1mA,、2mA、5mA,，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀,。
2. 為什么測(cè)絕緣時(shí)，不但要求測(cè)單純的阻值,，而且還要求測(cè)吸收比,，極化指數(shù)，有什么意義,？
在絕緣測(cè)試中,，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面,，同樣性能的絕緣材料,，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大,。 另一方面,，絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過(guò)程和極化過(guò)程。 所以,，電力系統(tǒng)要求在主變壓器,、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值,，和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值,，并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
3． 在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中,，為什么要求儀表接G端連線,？
在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí),，被測(cè)試品表面受潮濕,，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大,，而儀表G端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路,，使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測(cè)試回路，消除泄漏電流引起的誤差,。
4．在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表L,、E兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬(wàn)用表DCV檔測(cè)L,、E兩端電壓,，為什么電壓會(huì)跌落很多，而數(shù)字式萬(wàn)用表則不會(huì),？
用普通的指針式萬(wàn)用表直接在絕緣電阻測(cè)試儀L,、E兩端測(cè)量其輸出的額定直流電壓，測(cè)量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多（超出誤差范圍）,，而用數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì),。這是因?yàn)橹羔樖饺f(wàn)用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬(wàn)用表內(nèi)阻相對(duì)較大,。指針式萬(wàn)用表內(nèi)阻較小,，絕緣電阻測(cè)試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓,。但是,，用萬(wàn)用表直接去測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的,，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測(cè)量。
5．能不能用絕緣電阻測(cè)試儀直接測(cè)帶電的被測(cè)試品,，結(jié)果有什么影響,，為什么？
為了人身安全和正常測(cè)試,，原則上是不允許測(cè)量帶電的被測(cè)試品,，若要測(cè)量帶電被測(cè)試品，不會(huì)對(duì)儀表造成損壞（短時(shí)間內(nèi)）,，但測(cè)試結(jié)果是不準(zhǔn)確的,，因?yàn)閹щ姾螅粶y(cè)試品便與其它試品連結(jié)在一起,，所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù),，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。
6．為什么數(shù)字絕緣電阻測(cè)試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓,？
這是根據(jù)直流變換原理,，經(jīng)過(guò)升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小,。（如電***幾節(jié)電池能產(chǎn)生幾萬(wàn)伏的高壓）
7．用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量絕緣電阻時(shí),，有哪些因素會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，為什么,？
A）電池電壓不足,。電池電壓欠壓過(guò)低，造成電路不能正常工作,，所以測(cè)出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的。
B）測(cè)試線接法不正確,。誤將L,、G、E三端接線接錯(cuò),，或?qū),、L連線G、E連線接在被測(cè)試品兩端,。
C）G端連線未接,。被測(cè)試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差，造成測(cè)試不準(zhǔn)確,，此時(shí)必須接好G端連線防止泄漏電流引起誤差,。
D）干擾過(guò)大。如果被測(cè)試品受環(huán)境電磁干擾過(guò)大,，造成儀表讀數(shù)跳動(dòng),?；蛑羔樆蝿?dòng)。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確,。
E）人為讀數(shù)錯(cuò)誤,。在用指針式絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量時(shí)，由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確,。
F）儀表誤差,。儀表本身誤差過(guò)大，需要重新校對(duì),。
8.高阻絕緣表現(xiàn)場(chǎng)測(cè)容性負(fù)載時(shí)（如主變）,，指針顯示阻值在某一區(qū)間突然跌落（不是正常測(cè)試時(shí)的zui大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動(dòng)），快速來(lái)回?cái)[動(dòng),，是什么原因,？
造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火。 絕緣表向容性被測(cè)試品充電中,，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí),，如果儀表內(nèi)部測(cè)試線或被測(cè)試品中任一部位有擊穿放電打火，就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象,。 判別辦法：
（1）儀表測(cè)試座不接入測(cè)試線,，開啟電源和高壓，看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生（若有打火可聽(tīng)到放電打火聲）,。
（2）接上L,、G、E測(cè)試線,，不接被測(cè)試品,，L測(cè)試線末端線夾懸空，開啟高壓,，看測(cè)試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生,。若有打火現(xiàn)象，則檢查：a）L,、G測(cè)試線芯線（L端）與裸露在外的線（G端）是否過(guò)近,，產(chǎn)生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測(cè)試座屏蔽環(huán)或測(cè)試夾子與被測(cè)試品接觸不良造成打火,。c）測(cè)試線與插頭,、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電,。
（3）接入被測(cè)試品,，檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無(wú)放電打火。
（4）排除以上原因,，接好被測(cè)試品,，開啟高壓,，若儀表仍有上述現(xiàn)象則說(shuō)明被測(cè)試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。
