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上海添時(shí)科學(xué)儀器有限公司

用UNIPOL-1502研磨古代土壤

時(shí)間:2022-8-15 閱讀:1142
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實(shí)驗(yàn)材料:古代的塊狀土壤



圖1實(shí)驗(yàn)所用樣品圖

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模簩?duì)古代的土壤塊進(jìn)行研磨拋光,,觀察古代土壤的形態(tài)并進(jìn)行分析

實(shí)驗(yàn)設(shè)備:UNIPOL-1502精密研磨拋光機(jī),、GPC-100A精確磨拋控制儀、 4XC金相顯微鏡


Unipol-1502精密研磨拋光機(jī)

GPC-100A精確磨拋控制儀

 4XC金相顯微鏡

MTI-3040加熱平臺(tái)

設(shè)備特點(diǎn):


①UNIPOL-1502自動(dòng)精密研磨拋光機(jī)是用于晶體,、陶瓷,、金屬、玻璃,、巖樣,、礦樣、PCB板,、紅外光學(xué)材料(如硒化鋅,、硫化鋅、硅,、鍺等晶體),、耐火材料、復(fù)合材料等材料的研磨拋光制樣,。本機(jī)設(shè)置了?381mm的研磨拋光盤和三個(gè)加工工位,,可用于研磨拋光≤?110mm的圓片或?qū)蔷€長≤110mm的矩形平面。該機(jī)可以用研磨盤加磨料的方式研磨樣品,,也可以選用砂紙研磨樣品,。

②GPC-100A精確磨拋控制儀,主要用來控制被研磨樣品表面的平面度和平行度,,使磨拋后的樣品具有高的尺寸精度和質(zhì)量優(yōu)良的表面狀態(tài),。尤其適用于晶圓樣品、表面平行度和平面度要求高的大的圓片狀樣品的研磨,。磨拋控制儀試樣裝卡方式為真空吸附,,并配有數(shù)顯厚度測(cè)量儀,可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品減少的厚度,,承載樣件直徑不大于103mm,、厚度不大于13mm。

③MTI-3040加熱平臺(tái)升溫速度快,,控溫精準(zhǔn),,溫度高低可調(diào),散熱速度快,。主要適用于加熱時(shí)不會(huì)發(fā)生性質(zhì)和性狀改變的材料,,即不受加熱影響的材料,尤為適用于對(duì)溫度敏感材料(如晶體,、半導(dǎo)體,、陶瓷,、金屬等材料)的加熱,。也可用于實(shí)驗(yàn)室做化學(xué)分析,、物理測(cè)定、熱處理時(shí)進(jìn)行物品的烘焙,、干燥以及其它溫度試驗(yàn)加熱,。

實(shí)驗(yàn)耗材:

實(shí)驗(yàn)過程:首先將玻璃片和塊狀土壤放到MTI-3040加熱平臺(tái)上進(jìn)行加熱,當(dāng)加熱溫度達(dá)到80℃以上時(shí)將石蠟涂抹至載玻片表面,,將塊狀土壤放至石蠟之上,,然后將粘有塊狀土壤的載玻片移下加熱平臺(tái)進(jìn)行冷卻,待樣品冷卻到室溫后石蠟?zāi)?,將塊狀土壤牢牢粘貼在載玻片表面,。土壤粘好之后將載玻片固定在GPC-100A精確磨拋控制儀上,GPC-100A精確磨拋控制儀采用真空吸附的方式將載玻片吸附在載樣盤上,,是專門設(shè)計(jì)為土壤磨拋使用的,,可以快速裝卡試樣。然后準(zhǔn)備對(duì)試樣進(jìn)行磨拋,,由于試樣是泥土試樣,,磨拋過程中水流不宜過大。首先使用400#電鍍金剛石磨片對(duì)試樣進(jìn)行磨平,,研磨至試樣原始的表面都去除并且達(dá)到平整狀態(tài)為止,,在磨平這步所用的旋轉(zhuǎn)速度為30rpm,所用時(shí)間為30min,;試樣磨平之后取下試樣和金剛石磨片,,將樣品和研磨盤清洗干凈。接下來分別使用800#和1500#砂紙對(duì)試樣進(jìn)行研磨,,每次研磨都需要將上一步研磨的所有劃痕磨掉,,每步研磨之后都要將研磨盤和樣品清洗干凈,以保證下一步研磨不會(huì)因有上一步研磨留下的雜質(zhì)而影響當(dāng)前步驟的磨拋結(jié)果,。800#砂紙研磨所用的轉(zhuǎn)速為40rpm,,所用的時(shí)間為15min。1500#砂紙研磨所用的轉(zhuǎn)速為40rpm,,所用時(shí)間2min,。吸附在GPC-100A精確磨拋控制儀上進(jìn)行磨拋的樣品如圖3所示;當(dāng)1500#砂紙研磨之后使用合成革拋光墊搭配二氧化硅懸浮拋光液對(duì)試樣進(jìn)行拋光,,拋光轉(zhuǎn)速80rpm,,拋光壓力1kg,拋光時(shí)間10min,。





圖3 研磨中的試樣

磨拋后的試樣如圖4所示,,圖4a為磨拋后的樣品形貌圖,,圖4b為對(duì)磨拋后的樣品進(jìn)行厚度測(cè)量,可見,,磨拋后的試樣厚度約為36μm,,此厚度的土壤試樣可進(jìn)行偏光顯微鏡的觀察和掃描電鏡觀察。

A 磨拋后樣品的形貌

B 磨拋后樣品的

圖4 磨拋后的試樣

在顯微鏡下對(duì)拋光后的泥土樣品進(jìn)行觀察可見,,泥土形貌有亮色區(qū)和暗色區(qū),,能清楚的顯示泥土的形貌和構(gòu)造,觀察者可根據(jù)上下層覆蓋的土層或巖層,,結(jié)合當(dāng)?shù)氐刭|(zhì)資料,,大概推斷出地質(zhì)年代或通過土壤形態(tài)構(gòu)造對(duì)當(dāng)?shù)氐牡刂非闆r進(jìn)行分析。




圖5 顯微鏡下泥土試樣的形貌圖


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