一,、探頭的主要指標(biāo)
　　1.帶寬／上升時(shí)間
　　帶寬：用戶對(duì)儀器/探頭系統(tǒng)理想的-3dB衰減zui高頻率。大多數(shù)探頭,，帶寬與上升時(shí)間的乘積接近0.35（0.35=BW.T 上升）,。通常情況下，為了地定義這些參數(shù),，源阻抗規(guī)定終端接50W 的系統(tǒng),，帶寬由脈沖上升時(shí)間定義來(lái)保證zui小失真，對(duì)探頭輸入電容從10%至90%電平充電需要的時(shí)間Tr=2.2×R_源×C_探頭
　　2.負(fù)載效應(yīng)
　　探頭的負(fù)載效應(yīng)主要是由其輸入電阻和電容反映,。在低頻（≤1MHz）時(shí),，探頭的負(fù)載主要是阻抗作用；在高頻時(shí)（≥10MHz）,，探頭的負(fù)載主要是容抗作用圖1表明探頭頻率與阻抗變化曲線

圖1 有源和無(wú)源探頭輸入阻抗

圖2 探頭補(bǔ)償

　　3. 衰減比
　　衰減比是輸出信號(hào)對(duì)輸入信號(hào)的比值，當(dāng)正確接上終端時(shí),，探頭應(yīng)有恒定的衰減比,，并在整個(gè)頻率帶范圍內(nèi)保持不變。
　　4.補(bǔ)償范圍
　　探頭的輸入電容決定了探頭的高頻特性和在額定衰減比下輸入電容的補(bǔ)償范圍,，調(diào)節(jié)輸入電容使探頭具有平滑下降的頻率特性和規(guī)定的衰減比,，由于不同的儀器輸入電容有一定的差異，因此探頭的輸入電容具有一定的調(diào)節(jié)范圍,。詳見(jiàn)圖2探頭補(bǔ)償問(wèn)題（C₁與R₂C₂/R₁的關(guān)系）
　　5.電壓
　　探頭測(cè)試zui大電壓（DC+峰值AC）是探頭的上限電壓范圍,；同時(shí)對(duì)高頻探頭，電壓的額定值也會(huì)隨頻率的增加而降低,。
　　6.探頭長(zhǎng)度
　　保持探頭電纜長(zhǎng)度盡可能短,。因?yàn)檫^(guò)長(zhǎng)的長(zhǎng)度降低帶寬和增加探頭的負(fù)載電容；較長(zhǎng)的探頭電纜也有較大的傳輸延遲（無(wú)源探頭一般為每米4ns）,。
　　7.探頭測(cè)試附件
　　各種各樣的適配器可以將探頭用機(jī)械的方法連接到被測(cè)電路上,，探頭測(cè)試一般導(dǎo)通很小的電流，在較低的電流電壓下有高電阻，如果采用全合金鍍層使電流傳導(dǎo)問(wèn)題減至zui小,。
　　8.電流
　　分二種指標(biāo)：連續(xù)zui小電流,、脈沖zui大電流。在脈沖zui大電流范圍內(nèi),，可以無(wú)失真測(cè)量由安培秒（A/S）乘積限定的zui大值,。

　　二、探頭的種類
　　探頭一般按用途進(jìn)行分類,，種類繁多,，大致如下

　　探頭一般zui常見(jiàn)結(jié)構(gòu)由以下部分組成：探針、橡膠（或其它材料）腔體,、電路（衰減或其它）屏蔽線纜,、BNC接頭等。
　　1.無(wú)源電壓探頭
　　無(wú)源電壓探頭是儀器常用的探頭,，其使用上方便,，穩(wěn)定，且價(jià)格也不昂貴,。典型的10:1探頭電路如下：

圖3 無(wú)源探頭連接測(cè)試圖

　　無(wú)源電壓探頭在較大的動(dòng)態(tài)范圍（±400V）能保證測(cè)試儀器的精度,，在低頻率段（≤7MHz）高阻抗輸入，隨著頻率的增加,，利用高輸入電容來(lái)降低阻抗電平,。其結(jié)構(gòu)前端一般有可拆卸的通用探鉤和卡入探頭體內(nèi)短而軟的鯉魚(yú)夾接地線，方便脫手檢測(cè)和接地對(duì)高頻的干擾,。無(wú)源電壓探頭有以下幾種形式：普通無(wú)源電壓探頭,、無(wú)源高壓探頭、小幾何尺寸探頭,、高性能組合探頭,、低容性探頭等。
　　普通無(wú)源電壓探頭適合高,、中,、低頻信號(hào)通用測(cè)量。無(wú)源緩沖探頭技術(shù)上的革新產(chǎn)品,，在寬的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)適用通用測(cè)量,；無(wú)源高壓探頭、一般具有較大的外形尺寸,、堅(jiān)固的結(jié)構(gòu),、較大的衰減倍數(shù)，適合普通高壓測(cè)試：PMT,、馬達(dá)驅(qū)動(dòng),、高壓開(kāi)關(guān),、磁控管，現(xiàn)代發(fā)射系統(tǒng)及其它高壓測(cè)試,；小幾何尺寸探頭是適應(yīng)現(xiàn)代小幾何尺寸IC表面封裝技術(shù)的需要,，通過(guò)各種各樣的適配器，減少了對(duì)TTL,、ECL,、CMOS電容性加載；高性能組合探頭是為了節(jié)省探頭壽命期內(nèi)修理和維護(hù)費(fèi)用而設(shè)計(jì)的,，它的探針,、電纜和連接件不需要焊接即可方便地裝配在一起；低容性探頭具有低容性加載,，滿足微波高頻需要,。 
　　2、有源電壓探頭
　　有源電壓探頭包括有源器件（場(chǎng)效應(yīng)晶體管或其它有源器件）,，而不包括無(wú)源器件,，它比無(wú)源電壓探頭具有更高的性能；低輸入電容,、高帶寬,、高輸入電阻、直流偏置能力,。見(jiàn)下圖4的比較

1.    

上面的波形圖顯示50Ω和1kΩ的阻抗測(cè)試點(diǎn),，探頭用1X無(wú)源探頭曲線T1（50Ω）曲線T2（1kΩ）;
10X有源FET探頭曲線T3（50Ω）曲線T4（1kΩ）;

上面波形顯示接地電感的影響，上面3根曲線顯示當(dāng)無(wú)源探頭的接地線長(zhǎng)度從0.5英寸（zui上面一根曲線）增加到6英寸,，12英寸（zui下面一根曲線）時(shí)的波形變化,。下面的3根曲線顯示了不管接地線的長(zhǎng)度有何變化，而有源探頭波形保持相對(duì)的不變,，這里用了和無(wú)源探頭相同的接地線長(zhǎng)度,。

　　應(yīng)用環(huán)境：
　　1.源阻抗 >100Ω或低功率線路，允許zui快上升時(shí)間的采集和幅度測(cè)量,，信號(hào)損耗少；
　　2.小信號(hào)線路分析：?jiǎn)挝辉鲆妫?/span>1X）獲得*靈敏度而不丟失帶寬,，保持小信號(hào)幅度,；
　　3.整體線路（含調(diào)諧電路）分析能力；高輸入阻抗,、低輸入容抗提供很好的上升時(shí)間和傳輸延時(shí)測(cè)量,，減小附加到線路的阻抗，降低對(duì)線路的干擾,；
　　4.通用回路特性和故障診斷的信號(hào)完整性,，適用阻抗未知或不容易計(jì)算情況,；低輸入電容具有更高的環(huán)路頻率，較長(zhǎng)的接地線,，適用回路接地端較遠(yuǎn)的情況,；
　　5.高直流偏置能力：方便您測(cè)量直流成分的電壓。
　　3,、差分探頭
　　差分探頭具有高的共模抑制比,，安全地測(cè)量浮置于儀器地的電路。適用于包括高壓電路在內(nèi)的各種應(yīng)用：高壓電路,、馬達(dá)速度控制,、電源設(shè)計(jì)和大功率電力轉(zhuǎn)換器。
　　*：在高壓測(cè)試時(shí),，如果測(cè)試電路的地端相對(duì)于儀器的地線具有較高的懸浮電壓或者多通道測(cè)試時(shí)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的地端之間產(chǎn)生懸浮電壓,，對(duì)使用者和測(cè)試儀器上有很大的危險(xiǎn)，在這種情況下差分探頭*,。比較成熟的差分懸浮測(cè)試系統(tǒng)一般由以下方案組成：①.電壓隔離方案：利用隔離器,，配上相應(yīng)的無(wú)源探頭，安全進(jìn)行浮地測(cè)量,；②.差分高壓探頭方案,；③.低振幅浮地電壓方案：利用差分放大器，配上相應(yīng)的探頭,，產(chǎn)生高增益和*的共模抑制比,，可測(cè)量到5μV的信號(hào)；④.綜合測(cè)試方案由差分探頭,、放大器與電源組成一個(gè)自成體系的差分放大系統(tǒng),。
　　4、電流探頭
　　電流探頭即把被測(cè)電路的電流信號(hào)通過(guò)傳感器（不斷開(kāi)電路）轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘?hào)輸送到測(cè)試儀器,。一般有兩種類型：傳統(tǒng)的“互感器”AC探頭和“霍爾效應(yīng)式”的DC探頭,。電流探頭不能“反向逆轉(zhuǎn)”所以它的負(fù)載能力比其它探頭更小。見(jiàn)下圖5
　　為了的測(cè)量電流,，我們可以通過(guò)電流放大器,、電源、機(jī)箱和相應(yīng)的電流探頭組成一個(gè)zui精密且靈活滿足各種需要的電流測(cè)量方案,。

　　5,、邏輯探頭
　　邏輯探頭是無(wú)源電壓探頭的一種，它適合于多通道同步測(cè)試需要,，見(jiàn)圖6

圖6 邏輯探頭的幾種結(jié)構(gòu)

　　邏輯探頭一般具有16個(gè)通道,，并且每個(gè)通道具有良好的接地，其復(fù)雜主要在連接頭和各種適配器上,，連接頭一般有：“飛機(jī)”型,、“蒼蠅”型也稱“歐翼”型“J”型兩種,，適合小間距IC集成電路的測(cè)試。

　　三,、合理選擇探頭
　　探頭雖然有很多種類,，我們可從功能出發(fā)選擇所需要的探頭種類。探頭的種類確定后,，選擇相應(yīng)性能的探頭,，主要考慮探頭的加載影響和信號(hào)逼真度的傳遞。同時(shí)也應(yīng)注意物理參數(shù)（例如尺寸大小,、電纜長(zhǎng)度和與被測(cè)裝置互相聯(lián)接的適配器）對(duì)測(cè)量成功的重要性,。
　　1、阻抗的匹配
　　選擇與儀器輸入電阻和輸入電容相匹配的探頭,，例50Ω示波器輸入需要50Ω的探頭或有源探頭,。這樣保證對(duì)被測(cè)電路的負(fù)載效應(yīng)zui小。
　　2,、帶寬與上升時(shí)間的匹配
　　選擇與測(cè)試儀器和上升時(shí)間相匹配的探頭,，例100M示波器需要100MHz以上的探頭。
　　3,、時(shí)間延時(shí)的影響
　　在進(jìn)行相位和時(shí)間一致性測(cè)量或差分測(cè)量應(yīng)用中,，選擇型號(hào)相同和電纜長(zhǎng)度相等的探頭，避免不同的探頭對(duì)信號(hào)延時(shí)時(shí)間的不同,。
　　4,、接地影響
　　選擇接地良好和短的接地線的探頭，探頭的頻率特性是在同軸系統(tǒng)內(nèi)定量所得,。而在實(shí)際應(yīng)用中,，探頭往往處于非同軸匹配的系統(tǒng)中，把串聯(lián)電感降至zui??；在高壓測(cè)試中，良好的接地尤為重要,，否則會(huì)產(chǎn)生放電或打火現(xiàn)象,，嚴(yán)重會(huì)損壞儀器。
　　5,、探頭的負(fù)載影響
　　選擇盡可能低輸入電容和高輸入電阻的探頭,，便于探頭*的信號(hào)保真。探頭的輸入阻抗變化與頻率成反比,。例：50MHz帶寬,，直流電壓輸入時(shí)阻抗約為1MΩ的探頭,，在50MHz阻抗輸入時(shí)阻抗約為1.5MΩ,。這樣雖然探頭的輸入阻抗選擇盡可能的高,，但是它還是對(duì)被測(cè)線路有一定的影響；因此在測(cè)試中盡量選擇低阻抗測(cè)試點(diǎn),，以減小探頭負(fù)載影響,。通常陰極、發(fā)射極和源極較好于陽(yáng)極,、集電極或漏極,。總之了解探頭加載對(duì)被測(cè)電路的影響,，可以避免錯(cuò)誤探測(cè),，減少測(cè)量次數(shù)，從而得到更準(zhǔn)確,、重復(fù)性好的測(cè)量結(jié)果,。
　　6、探頭的兼容性和其它功能
　　選擇兼容性能好和具有其它特殊功能的探頭,，降低使用成本和靈活方便,，例如：帶有衰減倍數(shù)讀出功能的探頭，在安裝有讀出功能的示波器上可自動(dòng)標(biāo)定刻度,；裝有接地選擇功能的探頭,，可快速尋找波形蹤跡。

　　四,、更好的使用探頭
探頭看起來(lái)簡(jiǎn)單,，往往不受人產(chǎn)重視，實(shí)質(zhì)上如果操作不當(dāng),，會(huì)嚴(yán)重影響使用結(jié)果,，在使用中我們必須注意以下幾個(gè)方面：
　　1、探頭補(bǔ)償
　　探頭補(bǔ)償即在探頭末端和測(cè)試儀器輸入端之間頻率補(bǔ)償,，當(dāng)探頭*次連接到儀器上時(shí),，我們一般用低頻方波（通常為1KHz到10KHz）來(lái)補(bǔ)償以獲得同樣的時(shí)間常數(shù)。探頭末端與儀器的輸入端的關(guān)系如圖7所示,，調(diào)節(jié)C2可得如下關(guān)系：
　　R₁C₁=R₂（C₂+C₃）=*信號(hào)傳送,，在探頭補(bǔ)償中，不適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償將導(dǎo)致補(bǔ)償過(guò)足,、欠壓等現(xiàn)象（見(jiàn)圖2）,，出現(xiàn)衰減或不正確的信號(hào)振幅，范圍可為幾十KHz
　　2,、探頭接觸良好
　　任何導(dǎo)體與其它導(dǎo)體接觸時(shí),，都會(huì)產(chǎn)生接觸電阻和雜散干擾，測(cè)量時(shí)保證探頭各個(gè)部分以及導(dǎo)體與被測(cè)電路接觸穩(wěn)定,、良好,。
　　3,、接地
　　一定要確認(rèn)探頭接地的方法、當(dāng)信號(hào)頻率超過(guò)10MHz,，幅值就會(huì)隨接地的不同而變化,，當(dāng)檢查一個(gè)具有高速上升時(shí)間的電路，如ECL電路,，就需要用影響zui短的接地線接地（例如接地彈簧）
　　4,、探頭附件
　　選擇不同的附件與探頭相配套，滿足各種測(cè)試需要,，例如小貼片電阻,，電容的測(cè)試。

圖7 探頭補(bǔ)償電路