詳細介紹
E4991A 射頻阻抗/材料分析描述
:E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內(nèi)置分析功能,。
它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能,,幫助他們進行研發(fā)工作。
與反射測量技術不同,,E4991A 使用射頻電流–電壓(RF-IV)技術,,可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結果。
基本阻抗精度是 +/-0.8%,。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析,。內(nèi)置合成器具有 1 MHz 到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
材料評估 E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案,,涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍,。
晶圓測量 借助E4991A-010 探針臺連接套件,您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)(由 Cascade Microtech 提供)上進行晶圓測量,。
溫度特性評估 溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案,。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能,以及強大的溫度漂移補償功能,。 基本精度 ? 基本精度 +/-0.8% 掃描參數(shù) ? 頻率:1 MHz 至 3 GHz ? 振蕩器電平:高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms ? DC 偏置電平(選件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50 mA 更多特性 ? Windows 風格的用戶界面 ? 內(nèi)置 VBA 編程功能 ? 通過 LAN 接口進行數(shù)據(jù)傳輸 多功能測量選件 ? 介電/磁性材料測量(選件 E4991A-002) ? 可靠的晶圓測量(選件 E4991A-010) ? 溫度特性測量(選件 E4991A-007)