詳細(xì)介紹
Agilent 4291B 射頻阻抗/材料分析儀
- 4個元件測試夾具(被測件尺寸:0.5 mm至20 mm)
- 獨立選擇2個通道的參數(shù)
- 直接讀取介電常數(shù)、導(dǎo)磁率(選件)
- 2個材料夾具(工作溫度:-55至+200攝氏度)
- 多功能分析(溫度,、科爾-科爾圖表,、松弛時間)
- 掃描參數(shù)(頻率、交流電平,、直流偏置,、溫度)
描述
Agilent 4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同,,Agilent 4291B使用直接的電流-電壓測量技術(shù),,可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果,。
基本阻抗精度是+/- 0.8%,。高Q精度有利于進(jìn)行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1 MHz到1.8 GHz,,具有1 MHz的分辨率,。1.8米長的精密電纜可將分析儀連接到測試站,以便您將測試點延伸到分析儀之外,,而不會影響測量精度,。*進(jìn)的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯誤,確保DUT/MUT的高精度和可重復(fù)性,。
Agilent 4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號,;可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達(dá)40V和100mA)使測量偏置獨立于阻抗特性,。只要按一個按鈕,,內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。
Agilent 4291B有2個測量通道,;每一個通道都可設(shè)置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參數(shù),。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù),。有了內(nèi)裝IBASIC,,您就能從Agilent 4291B直接控制恒溫箱或園片探測器這類外部測試設(shè)備,而不需要單獨的儀器控制器,。
材料評估
Agilent 4291B能容易地進(jìn)行全面的材料評估,,提高材料評估的質(zhì)量和效率,。Agilent 4291B提供寬頻率范圍(1MHz至1GHz)介電/磁性材料測量的總體解決方案。
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