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[供應(yīng)]gdat-c-介電常數(shù)測試儀 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校,、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻,、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
主要技術(shù)特性
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ） 100 ～ 999.999kHz ,， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ,， 100 ～ 160MHz
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ，
量程分檔： 30 ,、 100 ,、 300 、 1000 ,，自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字
概述
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）,。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品，它采用了數(shù)顯微測量裝置,，因而讀數(shù)方便,，數(shù)據(jù)精確。
測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成,。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,，通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化,，測得絕緣材料的損耗角正切值。
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù),。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性
平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
本儀器測試儀方法如下：
儀器的測試準(zhǔn)備工作
先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法,，操作時，要避免人體感應(yīng)的影響,。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量,。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
c. 配上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求）,， 如：1MHz 時電感取250uH,，15MHz時電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵,，打開液晶顯示屏,。
e. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止,，長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0,。
4．介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間,，調(diào)節(jié)平板電容器,，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松）,，這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,，使Q 表處于諧振點(diǎn)上,。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧,，此時調(diào)節(jié)平板電容器,，使Q 表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù)：
Σ＝D2 / D4
5．介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上,。把被測樣品插入二極片之間,，改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上,，讀得Q 值,，記為Q2,。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,，這時Q 表又失諧,，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上,。讀得Q 值,，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1,。
c. 然后取下測試裝置,，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振,，電容讀數(shù)記為C3,，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1
d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)公式如下：
式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）C0 為測試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）
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