電感：
線圈號測試頻率 Q值分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233,，211 0.9 0.125μH

介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

一,、介電常數(shù)介質損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用,、多用途、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前高的160MHz,。

gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設計的工程師,、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確,，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,，無須關注量程和換算單位。

主要技術特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ,，量程分檔： 30 ,、 100 ,、 300 ,、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍 1 ～ 200pF 主電容調節(jié)范圍 18 ～ 220pF 主電容調節(jié)準確度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上

信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬） 100 ～ 999.999kHz ,， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ,， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字

搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介質損耗測試裝置技術特性

平板電容器：極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

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