
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[供應(yīng)]GDAT-A-絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試,。
2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,,壓控振蕩器
Q值測(cè)量范圍:1~1000三位數(shù)顯,,±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測(cè)量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀測(cè)介電常數(shù)
調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿,使二極片相接為止,,讀取刻度值記為DO,。
再松開二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,,調(diào)節(jié)平板電容器,,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),,這時(shí)能讀取新的刻度值,,記為D1,這時(shí)樣品厚度D2= D1-D0。
選鈕8順時(shí)針擰到頭,。
開機(jī),,按5號(hào)鍵或6號(hào)鍵選擇電感;按照提示,,通過選鈕7調(diào)節(jié)通道,。
按1號(hào)鍵(自動(dòng))搜索頻率,Q達(dá)到zui大,,自動(dòng)鎖定頻率,。
(如Q比較小,再次按1號(hào)鍵搜索頻率,;還可以通過3,,4號(hào)鍵手動(dòng)調(diào)節(jié)頻率找到*諧振頻率)
取出平板電容器中的樣品(切記不要調(diào)節(jié)頻率),這時(shí)Q表又失諧,,調(diào)節(jié)平板電容器,,使再諧振(只調(diào)節(jié)平板電容,不調(diào)節(jié)頻率,,Q再次達(dá)到zui大),,讀取測(cè)微桿上的讀值D3,其變化值為D4= D3-D0,。
被測(cè)樣品的介電常數(shù):Σ=D2 / D4
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn):空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,,。
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀電感器:
按測(cè)試頻率要求,,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),,要配250μH電感器,,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等,。
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),,使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 ,。
◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試,。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小,。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等,。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制,。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測(cè)試信號(hào),。獨(dú)立信號(hào) 源輸出口,所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源,。
◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
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