介電常數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測(cè)值偏低,,。

詳細(xì)介紹

介電常數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,,。

介電常數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn)：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 ,。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試,。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小,。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值,，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等,。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制,。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào) 源輸出口,，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源,。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測(cè)試儀儀器技術(shù)指標(biāo)：

Q值測(cè)量：

a．Q值測(cè)量范圍：5～999,。

b．Q值量程分檔：30,、100、300、999,、自動(dòng)換檔,。

c．標(biāo)稱(chēng)誤差

頻率范圍：25kHz～10MHz；

固有誤差：≤5％±

滿(mǎn)度值的2％,；

工作誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％,；

頻率范圍：10MHz～50MHz；

固有誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％,；

工作誤差：≤10％±滿(mǎn)度值的2％。

振蕩頻率：

a．振蕩頻率范圍：

25kHz～50MHz,；

b．頻率分檔

25～74kHz,，

74～213kHz，

213-700kHz,，

700kHz～1.95MHz,，

1.95MHz～5.2MHz，

5.2MHz～17MHz,，

17～50MHz,。

電感測(cè)量：

a．測(cè)量范圍：0.1μH～1H。

b．分檔：分七個(gè)量程,。

0.1～1μH,，

1～10μH，

10～100μH,，

0.1～lmH,，

1～10mH，

10～100mH,，

100 mH～1H,。

電容測(cè)量：

a．測(cè)量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則)；

b．電容量調(diào)節(jié)范圍

主調(diào)電容器：40～500pF,；

準(zhǔn) 確度：150pF以下±1.5pF,；150pF以上±1％；

微調(diào)電容量：－3pF～0～＋3pF,；準(zhǔn) 確度：±0.2pF,。

介電常數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005,，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005,，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍：1～1000三位數(shù)顯,，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試,。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器,。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到,。

同樣，由測(cè)微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化,，通過(guò)公式計(jì)算得到介電常數(shù),。

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