介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置：
2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10

詳細(xì)介紹

電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器：

按測(cè)試頻率要求,，需要配置不同量的電感器,。

例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配250μH電感器,，在50MHz測(cè)試頻率時(shí),，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品,。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃,，氧化鋁陶瓷,，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,，厚1～2mm測(cè)試樣品,。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性,。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試,。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005,，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005,，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍：1～1000三位數(shù)顯,，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

Q值測(cè)量

．Q值測(cè)量范圍：2～1023,；

．Q值量程分檔：30、100,、300,、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔,；

Q合格指示預(yù)置功能：預(yù)置范圍：5～1000

6．Q表正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃,；

b．相對(duì)濕度：<80％；

c．電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz,。

7．其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg,；

c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280,。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

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