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陶瓷介電常數(shù)介質損耗測試儀
參考價 | 面議 |
- 型號 GDAT-A
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質 生產(chǎn)商
- 所在地 北京市
更新時間:2024-08-14 10:59:03瀏覽次數(shù):1531
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可以用于科研機關,,學校,例如一些科研院所,,大專院?;蛴嬃繙y試部門的實驗室需要用介電常數(shù)測試儀對絕緣材料的介電常數(shù)進行測試;也適用于工廠或單位,,如一些工廠對無機非金屬新材料性能的應用進行研究,,另外在電力、電工,、化工等領域,,如:電廠、電業(yè)局實驗所,、變壓器廠,、電容器廠、絕緣材料廠,、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質損耗和相對介電常數(shù)ε的質量檢測等,。
陶瓷介電常數(shù)介質損耗測試儀GDAT-A
陶瓷介電常數(shù)介質損耗測試儀GDAT-A技術指標
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:5~999。
b.Q值量程分檔:30、100,、300,、999、自動換檔,。
c.標稱誤差
頻率范圍:25kHz~10MHz,;
固有誤差:≤5%±滿度值的2%;工作誤差:≤7%±滿度值的2%,;
頻率范圍:10MHz~50MHz,;
固有誤差:≤7%±滿度值的2%;工作誤差:≤10%±滿度值的2%,。
2.電感測量
a.測量范圍:0.1μH~1H,。
b.分 檔:分七個量程。
0.1~1μH,, 1~10μH,, 10~100μH,
0.1~lmH,, 1~10mH,, 10~100mH, 100 mH~1H,。
3.電容測量
a.測量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則),;
b.電容量調節(jié)范圍
主調電容器:40~500pF;
準 確 度:150pF以下±1.5pF,;150pF以上±1%,;
微調電容量:-3pF~0~+3pF;
準 確 度:±0.2pF,。
4.振蕩頻率
a.振蕩頻率范圍:25kHz~50MHz,;
b.頻率分檔:
25~74kHz, 74~213kHz,, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,,
1.95MHz~5.2MHz,, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz,。
c.頻率誤差:2×10±1個字,。
5.Q合格指示預置功能,預置范圍:5~999,。
6.儀器正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃,;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz,。
7.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,,直徑為Φ30~40mm(ε<12時),Φ25~35mm(ε=12~30時),,Φ15~20mm(ε>30時)
8.其他
a.消耗功率:約25W,;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280,。
陶瓷介電常數(shù)介質損耗測試儀GDAT-A一個高品質因數(shù)(Q)的電感器是測量系統(tǒng)*的輔助工具,,關乎測試的靈敏度和精度,在系統(tǒng)中它與平板電容(BH916)構成了基于串聯(lián)諧振的測試回路,。本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成,,以適配不同的檢測頻率。
陶瓷介電常數(shù)介質損耗測試儀GDAT-A概述
介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷,、裝置瓷,、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,,為提高材料的性能提供依據(jù),;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,,通用、多用途,、多量程的阻抗測試,。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,,標準頻率測試點自動設定,,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,,數(shù)值顯示等新技術,改進了調諧回路,,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,,測量值更為精確,。儀器能在較高的測試頻率條件下,,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,,電容器的電容量和損耗角正切值,,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,,傳輸線的特性阻抗等。
GDAT-A基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表,,其數(shù)碼化主調電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的zui高成就,,隨之帶來了頻率,、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機界面,,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L,、主調電容器C,、測試頻率F、諧振趨勢指針等,。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6,。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),把被測材料作為平板電容的介質,,與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路,,以獲取zui高的測試靈敏度,。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態(tài)下的特征,。GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定,、操作簡便,。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關注量程和換算,,*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具,。
GDAT-A《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,,它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的,、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度,。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值,。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù),。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,精密的加工設計,、精確的LCD數(shù)字讀出,、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差,。
GDAT-A數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT),,實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化,,tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理,,因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的,。
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