1．絕緣介電常數測試儀測試注意事項

a．本儀器應水平安放,；

b．如果你需要較精確地測量,，請接通電源后,，預熱30分鐘,；

c．調節(jié)主調電容或主調電容數碼開關時,，當接近諧振點時請緩調；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,，足夠粗,，并應接觸良好,、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差,；

e．被測件不要直接擱在面板頂部,，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊,；

f．手不得靠近試件,，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件,，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱,。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

1．測試注意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地測量,，請接通電源后,，預熱30分鐘；

c．調節(jié)主調電容或主調電容數碼開關時,，當接近諧振點時請緩調,；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗,，并應接觸良好,、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差,；

e．被測件不要直接擱在面板頂部,，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊,；

f．手不得靠近試件,，以免人體感應影響造成測量誤差,，有屏蔽的試件,，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

絕緣介電常數測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試,。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005,，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯,，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯,，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

tanδ和ε性能：

1. 固體絕緣材料測試頻率100kHz～100MHz的tan δ 和 ε 變化的測試。
2. tan δ 和 ε 測量范圍：tan δ：0.1～0.00001,，ε：1～50
3. tan δ 和ε 測量精度（1MHz）：tan δ：±5%±0.00005,，ε：±2%

主要技術特性：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷,、電容器等陶瓷,，還有復合材料等的一項重要的物理性質,，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,，為提高材料的性能提供依據,；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了,，通用,、多用途、多量程的阻抗測試,。它以單片計算機作為儀器的控制,，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定,，諧振點自動搜索,，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術,，改進了調諧回路,，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,，使得新儀器在使用時更為方便,，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值,，電工材料的高頻介質損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等,。

特點： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 ,。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試,。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小,。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值,，測試頻率，調諧狀態(tài)等,。

◎ Q值量程自動/手動量程控制,。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源,。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求,。