絕緣材料介質損耗介電常數(shù)測試儀標準配置：

高配Q表 一只  

試驗電極  一只 （c類）

電感      一套（9只）

電源線    一條

說明書    一份

合格證    一份

保修卡    一份

絕緣材料介質損耗介電常數(shù)測試儀主要性能參數(shù)一覽表

BH916測試裝置                                         GDAT高頻Q表

平板電容極片 Φ50mm                                  可選頻率范圍20KHz-60MHz,、

間距可調范圍≥15mm                                   頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm                              主電容調節(jié)范圍30-500

測微桿分辨率0.001mm                                  主調電容誤差<1%或1pF 

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                     Q測試范圍2～1023

全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定,、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,，無須關注量程和換算,，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具,。

諧振趨勢指針等,。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6,。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路,，以獲取zui高的測試靈敏度,。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態(tài)下的特征。

《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的,、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度,。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù),。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,，精密的加工設計、精確的LCD數(shù)字讀出,、一鍵式清零功能,，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

由916測試裝置（夾具）,、GDAT型高頻Q表,、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,，它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作,。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*解決方案,。

正常工作條件

   a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

  b．相對濕度：<80％,；

  c．電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz。

   7．其他

  a．消耗功率：約25W,；

   b．凈重：約7kg,；

   c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。

介電常數(shù)介質損耗測試儀特點： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,，使測Q分辨率至0.1Q,，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試,。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值,，測試頻率,，調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制,。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號,。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源,。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求,。