介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻,、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

一,、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用,、多用途,、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 

一,、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷,、裝置瓷,、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε）,，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù),；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了，通用,、多用途,、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,，標準頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索,，Q值量程自動轉(zhuǎn)換,，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路,，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便,，測量值更為精確,。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量,，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān),、學校,、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
 
  主要技術(shù)特性  
Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ,， 量程分檔： 30 ,、 100 、 300 ,、 1000 ，自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調(diào)節(jié)范圍  18 ～ 220pF  
主電容調(diào)節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ,； 100pF 以上 ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ,， 100 ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,，它采用了數(shù)顯微測量裝置,，因而讀數(shù)方便，數(shù)據(jù)精確,。
測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成,。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度,。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值,。
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù),。 

BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm
 
電感：
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233,，211    0.9       0.125μH

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀使用說明

測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法,，操作時，要避免人體感應的影響,。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量,。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求）,，如：1MHz 時電感取250uH,，15MHz時電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵,，打開液晶顯示屏,。
e. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止,，長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0,。
4．介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間,，調(diào)節(jié)平板電容器,，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松）,，這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,，使Q 表處于諧振點上,。
b. 取出平板電容器中的樣品,，這時Q 表又失諧，此時調(diào)節(jié)平板電容器,，
使Q 表再回到諧振點上,，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù)：
                         Σ＝D2 / D4     
           

5．介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。
把被測樣品插入二極片之間,，改變Q 表上的主調(diào)電容容量,，使Q 表處于諧振點
上，讀得Q 值,，記為Q2,。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,，這時Q 表又失諧,，再改變Q 表上的主調(diào)電容
容量，使Q 表重新處于諧振點上,。讀得Q 值,，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1,。
c. 然后取下測試裝置,，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振,，電
容讀數(shù)記為C3,，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1
d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)

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式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）
C0 為測試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）