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當前位置：上海精誠興儀器儀表有限公司> 供求商機> X-RAY膜厚儀工作原理
韓國MicroPioneerXRF-2020鍍層測厚儀
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量,。
韓國鍍層測厚儀工作方法，通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
X-RAY膜厚儀工作原理將X射線照射在樣品上,，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來,。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,，所以不會對樣品造成損壞,。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成,。
可測量鍍金,、鍍鋅、鍍鈀,、鍍鉻,、鍍銅、鍍銀,、鍍錫,、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單鍍層,、雙鍍層,、多鍍層、合金鍍層等,，不限底料
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
產(chǎn)品如下圖所示
X-RAY膜厚儀工作原理
X-RAY膜厚儀工作原理
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量,。
連接電腦通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
檢測鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
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