韓國XRF-2000H型鍍層測厚儀

韓國先鋒XRF-2000 測厚儀系列

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅,、鍍鈀,、鍍鉻,、鍍銅、鍍銀,、鍍錫,、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

測量的厚度范圍為0.03微米～35微米,。

可測單層,、雙層、多層,、合金鍍層測量,，不限底料。

XRF-2000鍍層測厚儀三款型號

不同型號各種功能相同

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:測量樣品高度不超過10cm  (長寬55cm)

XRF-2000L型:測量樣品高度不超過3cm   （長寬55cm）

XRF-2000PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板

韓國XRF-2000H型鍍層測厚儀?測量范圍.

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-25um

Ni-P 0.05-25um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-25um

Cr  0.05-25um

Zn  0.05-25um

ZnNi 0.05-25um

SnCu 0.05-25um

設備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層）,，合金膜層均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數

彩色區(qū)別測量數據

多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D,，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務時效

X射線鍍層測厚儀韓國

韓國XRF2000X光鍍層測厚儀精度控制：

*層：±5%

第二層：±8%

第三層：±15%

X射線鍍層測厚儀韓國XRF2000