韓國XRF-2000測厚儀標準片校正片
X-RAY膜厚儀校正片
適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案,。
也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系
來得到標準曲線,。以此標準曲線來測量鍍層樣品
以得到鍍層厚度或組成比率,。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用,。
韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,，LED支架等電鍍層厚度。
測量鍍金,、鍍鋅,、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅,、鍍銀,、鍍錫、鍍鎳,，鍍鋅鎳合金等
可測單層,、雙層、多層,、合金鍍層測量,，不限底料
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