韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀標準片
電鍍層測厚儀標準片
X-RAY膜厚儀校正片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片
X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案,。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法
是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,,來得到標準曲線,。以此標準曲線來測量鍍層樣品
以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用,。
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀標準片
用于儀程序標準程序設定及校準儀器
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層