X光電鍍層測厚儀標準片,X-RAY膜厚儀校正片
適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案,。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,，是測量已知厚度或組成的標準樣品,，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,，來得到標準曲線,。以此標準曲線來測量鍍層樣品,，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用,。
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