X射線銅上鍍銀測厚儀:測量范圍0.1-50um
韓國Micro Pioneer(先鋒)X射線鍍層測厚儀
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號
不同型號各種功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,可檢測大型樣品
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國XRF2000鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
測量樣品高度3cm以內或10cm
鍍層厚度測試范圍:0.03-35um
可測試單層,,雙層,,多層及合金鍍層厚度
X射線銅上鍍銀測厚儀:測量范圍0.1-50um
可測銅上鍍銀,鋁上鍍鎳鍍銅鍍銀,銅上鍍鎳鍍銀等