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塞貝克系數(shù)電阻測試儀 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測試儀 高低溫冷熱臺(tái)測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀 電壓擊穿測定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場介電,、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀 高溫介電溫譜測試儀 熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
你了解半導(dǎo)體封裝材料電壓擊穿試驗(yàn)儀的測試原理么？
你了解半導(dǎo)體封裝材料電壓擊穿試驗(yàn)儀的測試原理么,？
電壓擊穿試驗(yàn)儀測試原理：
擊穿,、耐壓試驗(yàn)就是對(duì)被試品施加一定的電壓，并保持一定時(shí)間,，以考慮被試品絕緣承受各種電壓的性能,。絕緣電阻和吸收比試驗(yàn)、泄漏電流和直流耐壓試驗(yàn)以及介質(zhì)損失角測量試驗(yàn)等雖然能發(fā)現(xiàn)很多絕緣缺陷，但因其試驗(yàn)電壓低于被試品的工作電壓,，往往對(duì)一些絕緣缺陷還不能及時(shí)發(fā)現(xiàn),，為了進(jìn)一步暴露設(shè)備缺陷，檢查電氣設(shè)備絕緣水平和確保是否能投入運(yùn)行,，有必要進(jìn)行交流擊穿及耐壓試驗(yàn),。因此擊穿耐壓試驗(yàn)是鑒定電氣設(shè)備絕緣強(qiáng)度zui有效zui直接的方法，它對(duì)于判斷電器設(shè)備能否投入運(yùn)行具有決定性的意義,。交流耐壓試驗(yàn)的電壓,、波形、頻率和在被試品絕緣內(nèi)部電壓的分布均符合實(shí)際運(yùn)行情況,，因此,，交直流擊穿、耐壓試驗(yàn)?zāi)苡行У匕l(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備存在的較危險(xiǎn)的集中性缺陷,。試驗(yàn)電壓越高,，發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷的有效性越高。
華測儀器電壓擊穿試驗(yàn)儀介紹：
HCDJC系列電壓擊穿試驗(yàn)儀12寸觸摸大屏,，采用計(jì)算機(jī)控制,，通過人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿,，工頻耐壓試驗(yàn),。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠,、浸漬纖維制品,、云母及其制品、塑料,、薄膜復(fù)合制品,、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試；電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制,，可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速,、準(zhǔn)確的采集、處理,，并可存取,、顯示、打印,。