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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗,、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
可在不同溫度,，頻率下測(cè)量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的系統(tǒng),？
可在不同溫度，頻率下測(cè)量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的系統(tǒng),？
高電場(chǎng)介電,、損耗,、漏電流測(cè)試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)從低頻到高頻信號(hào)的輸出與測(cè)量,，系統(tǒng)由工控機(jī)發(fā)出指令,，單片機(jī)控制FPGA發(fā)出測(cè)量波形，F(xiàn)PGA一路信號(hào)控制不同頻率幅值的信號(hào)由高壓放大器進(jìn)行電壓放大后，施加在樣品上,，另一路施加在鎖相放大器作為參考信號(hào),，不同頻率幅值的高壓信號(hào)加載樣樣品上,，樣品測(cè)量的信號(hào)測(cè)量后,，再回傳FPGA測(cè)試板卡,。測(cè)量的數(shù)據(jù)再由單片機(jī)回傳工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,。
它使用真正的 AC DFR（介電頻率響應(yīng)），保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù)據(jù)的能力,，可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測(cè)試結(jié)果,。 該軟件使測(cè)試既簡(jiǎn)單又快捷,，它可在進(jìn)行不同溫度，頻率下測(cè)量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù),。本套系統(tǒng)可以在任意電壓激勵(lì)下的介電響應(yīng)測(cè)試根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形激勵(lì),，滿(mǎn)足對(duì)不同條件下不同絕緣材料不同方面的測(cè)試需求,，較好地適應(yīng)用戶(hù)需求,。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
對(duì)被測(cè)信號(hào)進(jìn)行調(diào)整的信號(hào)源,，由鎖相放大器的信號(hào)輸出端提供,，采用內(nèi)部參考模式，這種模式幅于鎖相放大器對(duì)直接可以獲取的參考信號(hào)的幅度及相位,，測(cè)量精度更高,。數(shù)字鎖相放大器不會(huì)由于算法計(jì)算而引入或考增加噪聲，并且基本不受外界環(huán)境的干擾,。