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功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)具有哪些強(qiáng)大的測試功能,?

閱讀:622        發(fā)布時(shí)間:2024/6/12
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功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)具有哪些強(qiáng)大的測試功能?

 

功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)是一種用于全面評估功能材料電學(xué)性能的設(shè)備,。它集成了多種測試技術(shù)和方法,,能夠?qū)崿F(xiàn)對材料電學(xué)性能的精確、快速和全面檢測,。

HC功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電,、壓電、熱釋電,、介電,、絕緣電阻等電學(xué)測試,以及高,、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試,。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理,、軟件兼容性做了大量的接口,。無論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來易于擴(kuò)展,。加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本,。

 

強(qiáng)大的測試功能

鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;

PUND 脈沖測試,;

Fatigue 疲勞測試,;

Retention保持力;

Imprint印跡,;

Leakage current漏電流測試,;

Thermo Measurement 變溫測試功能

壓電參數(shù)測試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量,。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試,。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù),、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時(shí)間的曲線,。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃,、室溫到600℃,、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z,、電抗X,、導(dǎo)納Y,、電導(dǎo)G、電納B,、電感L,、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,,同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度,、頻率、時(shí)間,、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試,。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變,、玻璃化溫度等等,,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性,。

絕緣電阻測試功能

zhun度的電壓輸出與電流測量,,保障測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測,。例如:陶瓷材料,、硅橡膠測試、PCB,、云母,、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試,。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體,、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體,,陶瓷材料,,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件,,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,,高阻選件高至10MΩ。

電卡效應(yīng)測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能,。

溫度范圍:-50℃到200℃,、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s,,

zui大電壓可達(dá)10kV,

波形:用戶自定,、脈沖,、三角波、正弦波,、任意波形,、預(yù)定義波形。

 

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