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兩探針單晶硅多晶硅測(cè)試儀 SHY-JGL1

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產(chǎn)品型號(hào)SHY-JGL1

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廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時(shí)間:2021-06-08 16:18:14瀏覽次數(shù):1946次

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兩探針單晶硅多晶硅測(cè)試儀 SHY-JGL1

兩探針單晶硅多晶硅測(cè)試儀
型號(hào):SHY-JGL1
貨號(hào):ZH9060
產(chǎn):
本儀器主于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,,以便硅材料的切割和加工,。
為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展,,是計(jì)算機(jī)芯片,、內(nèi)存的發(fā)展,,越來越多的使用到了大直徑,、高度,、均勻度高的單晶硅材料,。目前,在美國,、德國等的工業(yè),,均采用了二探針法,使用二探針檢測(cè)儀來測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況,。
本儀器美國ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn),,是一種的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀,適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針法測(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,,從而進(jìn)一步判斷半導(dǎo)體材料的性能,,指導(dǎo)和監(jiān)視操作,,也可以用來測(cè)量金屬材料的電阻,儀器具有測(cè)量精度高,、穩(wěn)定性好,、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便,、造型美觀等特點(diǎn),。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針法測(cè)量硅晶體材料。
儀器分為儀表電氣控制箱,、測(cè)試臺(tái),、探頭三部分,儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表,、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置,、高穩(wěn)定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示,,零位穩(wěn)定,、輸入阻抗高,并設(shè)有自校功能,。在棒狀材料使用二探針法測(cè)試時(shí),,具有系數(shù)修正功能,從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù),,可以直接讀出電阻率,,使用方便,。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu),,造型美觀,可以方便地固定好大小尺寸的樣品,,并可以作逐點(diǎn)選擇步進(jìn)測(cè)量,,也可以自由選擇固定位置測(cè)量,電活動(dòng)自如,,具備鎖定裝置,,方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅,,測(cè)試探頭能自動(dòng)升降,,探針為碳化鎢材料,配置寶石軸承,,具有測(cè)量精度高,、游移率小、耐磨,、使用壽命長特點(diǎn),。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整,,以適合不同的材料。
規(guī)格參數(shù):
可測(cè)硅材料尺寸:
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求,。
長度:100~1100mm.
測(cè)量方式:軸向測(cè)量,,每隔10mm測(cè)量一點(diǎn)。
測(cè)量電阻率范圍:10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm,。
數(shù)字電壓表:
量    程:0.2mV,、2mV、20mV,、200mV,、2V
測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
輸入阻抗:0.2mV和2mV檔>106Ω
           20mV檔及以上>108Ω
顯    示:31/2位LED數(shù)字顯示,范圍0~1999,。
恒 流 源:
電流輸出:直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào),。
量    程:10μA、100μA,、1mA,、10mA、100mA
電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
二探針測(cè)試裝置:
探針間距:4.77mm
探針機(jī)械游移率:0.3%
探針壓力:0~2kg可調(diào)
測(cè)試探頭自動(dòng)升降
二探針測(cè)試臺(tái)
測(cè)試硅單長度:100-1100mm
測(cè)試點(diǎn)間距:10mm
測(cè)試臺(tái)有慢,、快二種移動(dòng)速度,,快速移動(dòng)速度為1000mm/分(均勻手動(dòng))
電    源:交流220V±10%,50HZ±2HZ
消耗功率:<150W
 


 

上一條:中空玻璃用露點(diǎn)儀
下一條:紫外照射檢測(cè)儀
 

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