變溫霍爾效應實驗儀 型號：MLHT-648 貨號：ZH10226 
產(chǎn)品簡介:
霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量,，進行半導體導電機制及散射機制的研究,，并可確定半導體的一些基本參數(shù)，如導電類型,、載流子濃度,、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等,。