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本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數,；
2.邁克爾遜干涉儀的調整與使用,。
規(guī)格參數：
雙導軌、雙動鏡,、平臺式
半導體激光器：波長625nm
溫控范圍：50-120℃,，選擇
恒溫穩(wěn)定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃，精度±0.1℃
本實驗是采用光的干涉法測量金屬的線脹系數,。
實驗項目：
1.利用光的干涉測定線脹系數,；
2.邁克爾遜干涉儀的調整與使用。
規(guī)格參數：
雙導軌,、雙動鏡,、平臺式
半導體激光器：波長625nm
溫控范圍：50-120℃，選擇
恒溫穩(wěn)定度：±0.1℃
測溫范圍：-50-125℃,，精度±0.1℃
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