太陽光譜反射率儀 美國 型號：SSR-E2 貨號：ZH10937 
產(chǎn)品簡介：
太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡面反射測量,，材料樣品zui小厚度可至6.4mm,，太陽反射比和吸收比到0.001,，重復(fù)性達到0.003。
采用鎢絲提供漫反射光源,，測量4個濾光探測器,、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外,、藍光、紅光和IR光譜范圍,。2個額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源,。漫反射和鏡面反射標準體隨機提供，標準體通過美國National Bureau of Standards Materials 標定,，儀器經(jīng)過標準體定標后即可開始測量,。
默認操作模式下，儀器每完成一個測量循環(huán)的時間為8秒鐘,，鎢燈亮6秒的同時并記錄檢測器偏移值,，燈亮兩秒鐘后6個探測器進行反射率測量并存儲，計算太陽反射比并顯示在LCD上，然后關(guān)閉光源,。通過鍵盤可切換6個探測器的反射比或吸收比顯示,。
執(zhí)行標準：美國ASTM C1549-04標準和ASTM E1980-01標準。
參數(shù)：
定制測量頭：標配測量頭用來測量平面樣品材料,，可定制測量頭用來測量曲面材料樣品,，如13mm直徑圓柱面。
手   柄：便于測量使用
12V便攜供電套裝：可連續(xù)測量5個小時的12V電池,、充電器,、運輸箱
分 辨 率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比至0.001
重 復(fù) 性：±0.003
準 確 性：±0.002
漂    移：5分鐘預(yù)熱,，漂移小于每小時±1%或者讀數(shù)+0.003
溫    度：電子組件zui高操作溫度60℃,，測量頭zui高50℃
濕    度：zui大80%
標 準 體：提供漫反射和鏡面反射標準體，經(jīng)過NBS定標
測量端口：1英寸直徑,，zui小樣品直徑1.1英寸,，
光    源：插拔式可換鎢絲燈
供    電：100-240VAC電源
線    纜：標配長度1.5m，可選長度10m
重    量：測量頭0.9kg,，電子模塊1.8kg,，透射率附件4.5kg
透射率測量附件：SSR-T透射率測量附件可以和SSR-R反射測量頭兼容進行樣品太陽輻射透射率測量，透射率測量角度從法線方向至60°可調(diào),，采用漫反射光源 照明并測量,。
應(yīng)用領(lǐng)域：
航空領(lǐng)域：熱控制涂層
控制領(lǐng)域：鍍膜、涂層
太陽能領(lǐng)域：吸收涂層,、反射涂層,、鏡面和反射鏡
訂貨指南： 
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，反射率測量頭,，2個白瓷體,，1個鏡面標準體，黑體,，6’信號電纜,，鹵素光源，光譜性能標準,，電源,，電源線和運輸箱。
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊,，具有手柄的反射率測量頭,，可實現(xiàn)5個小時連續(xù)測量的12v電池和充電器，2個白瓷體,，1個鏡面標準體,，黑體,，6’信號電纜，鹵素光源,，光譜性能標準,。電源，電源線和運輸箱,。
可選項： 
透射率測量附件,。