少子壽命測定儀|微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀 型號：GDSWJ-100B 貨號：ZH11749 
產(chǎn)品介紹：
本儀器配置數(shù)字存儲示波器，軟件依照壽命測量基本原理編寫,，采用了標準（MF28 及MF1535）中推薦的幾種讀數(shù)方法,。
數(shù)字示波器具有存儲功能,，應(yīng)用平均采樣方式,，平均次數(shù)可選4,、16,、32、64,、128,、256 次，隨平均次數(shù)的增加隨機噪聲被減小,，波形穩(wěn)定,、清晰。
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI 標準MF1535-0707 及標準GB/T 26068-2010設(shè)計制造,。本設(shè)備采用微波反射接觸光電導(dǎo)衰退測量方法,，適用于厚度為1mm 以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量,，提供接觸,、損傷、數(shù)字顯示的快速測量,。壽命測量可靈敏地反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況,，是半導(dǎo)體的重要檢測項目。
指標：
壽命測量范圍：0.25μs～10ms,；
電阻率下限：≥0.5Ω·cm,，尚未發(fā)現(xiàn)電阻率測量上限。
型號：N 型或P 型單晶或鑄造多晶,。
紅外光源波長：0.904～0.905μm,；
外形尺寸：365×415×160mm
產(chǎn)品重量：13Kg
工作電源：～220V 50Hz
功耗范圍：≤40W