ST-102E型探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī),。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,，適用于科研,、新品試制及小批量的中間測(cè)試。

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

工作臺(tái)面	370mm*245mm
載物臺(tái)直徑	4"
可選二種放大倍數(shù)	14-90倍連續(xù)變倍,； 17.5-112.5倍連續(xù)變倍,；
監(jiān)視方式	顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式
光學(xué)參數(shù)	手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm,；
旋轉(zhuǎn)臺(tái)	粗調(diào)范圍：360°,；微調(diào)范圍：±10°；小刻劃：1°,；銅盤直徑：Φ85mm,；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座	探針座X、Y,、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm,，分辨率±2μ,；三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制,；多可布三維探針座6個(gè),；探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；探針長(zhǎng)度：40mm,；
探針	探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,，針尖曲率半徑2μm；

標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái),、顯微鏡,、USB接口CCD攝像頭、三維微調(diào)座2個(gè),、探針臂2支,、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架,、探針臂,、探針、真空泵,。

產(chǎn)品名稱：探針測(cè)試臺(tái) 四探針測(cè)試臺(tái)
貨　　號(hào)：26209
產(chǎn)品型號(hào)：ST-102E

顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

工作臺(tái)面	370mm*245mm
載物臺(tái)直徑	4"
可選二種放大倍數(shù)	14-90倍連續(xù)變倍,； 17.5-112.5倍連續(xù)變倍,；
監(jiān)視方式	顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式
光學(xué)參數(shù)	手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm,；
旋轉(zhuǎn)臺(tái)	粗調(diào)范圍：360°,；微調(diào)范圍：±10°；小刻劃：1°,；銅盤直徑：Φ85mm,；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座	探針座X、Y,、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm,，分辨率±2μ；三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,，由磁性開關(guān)控制,；多可布三維探針座6個(gè)；探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm,；探針長(zhǎng)度：40mm,；
探針	探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,，針尖曲率半徑2μm；

四探針測(cè)試臺(tái) 訂購指南

會(huì)員登錄

收藏該商鋪

提示