四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料,、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),,金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
四探針探頭 探頭 型號(hào):GSZ-HP-501

四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料,、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻,。
◆ 特性及規(guī)格: |
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1 | 特制之手握式探筆 | 2 | 球形探針,、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷 | 3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 | 4 | 探頭使用壽命長(zhǎng) | 5 | 探針間距:1mmm、1.59mm,、3.8m,;偏差≤2%;游移率≤0.3%,;絕緣電阻≥500MΩ |
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型號(hào) (Model) | 曲率半徑 (Radius) | 壓力 (loads) | 探針間距 (spacing) | 探針排列 (Arrangement) |
GSZ-HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |