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技術(shù)文章

DiaInspect-OSM粒子分析儀工作原理

閱讀:1631          發(fā)布時間:2021-10-13

【冠遠科技】DiaInspect-OSM粒子分析儀適用于微米到鋸片粒度的各種粒度和金剛石,。

粒子分析儀特點:

1、有參數(shù)直方圖和參數(shù)組合散點圖,;

2,、所有參數(shù)組合示意圖,;

3、2D和3D虛擬排序,;

4,、多聚焦功能的深聚焦圖像;

5,、孔隙度掃描模塊,;

6、曲面和3D三維掃描模式,;

7,、報告生成一鍵生成;

8,、數(shù)據(jù)傳輸EXCEL結(jié)果表,;

9、真實粒子,、圖像和被測參數(shù)交互連接,;

工作原理:

DiaInspect-OSM粒子分析儀把顆粒分散到玻璃板上。當(dāng)檢查粒徑為幾微米的顆粒時,,建議濕敷粉末,。玻璃板通過XY臺在掃描運動中移動。陣列大小將根據(jù)實際放大級別自動選擇,。圖像采集部分從玻璃板的每個部分獲取并分析連續(xù)圖像,,因此可以以高圖像分辨率檢測大量單個粒子,。



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