詳細介紹
高分子雜質(zhì)分析儀
隨著對正電子和正電子素及其與物質(zhì)相互作用特性的深入了解,使正電子湮沒技術(shù)在原子物理,、分子物理,、固態(tài)物理、表面物理,、化學及生物學,、醫(yī)學等領(lǐng)域得到廣泛應用,并取得*的研究成果,。它在諸如檢驗量子電動力學基本理論,、研究弱相互作用、基本對稱性及天體物理等基礎科學中也發(fā)揮了重要作用,。同時,,隨著人們對正電子湮沒技術(shù)方法學上研究的深入進展,,使這一門引人注目的新興課題得到更快的發(fā)展。
實驗用放射源22Na,,其衰變綱圖如右圖所示,。該源發(fā)生 衰變放出一個正電子后幾乎同時(僅遲3 ps左右)還發(fā)射一個能量為1.28 MeV的 光子。因此,,測量1.28 MeV的 光子與正電子湮沒后放出的 光子(0.511 MeV)之間的時間間隔,,就可得到正電子壽命。對每個湮沒事件都可測得湮沒過程所需時間,。對足夠多的湮沒事件(~106個)進行統(tǒng)計,,就可得到一個正電子湮沒壽命譜。
系統(tǒng)集成測試報告參數(shù):
系統(tǒng)時間分辨率(用50μCi 60Co源測量):
保證值:≤ 200ps,;
典型值:≤ 180ps