產(chǎn)品簡介
EYE-8 超聲掃描顯微鏡主要利用高頻的超聲波(5MHz 以上)檢測材料,、晶圓或半導(dǎo)體封裝 器件內(nèi)部的缺陷位置、大小和分布狀態(tài)等,,對(duì)粘接層面非常敏感,能夠檢測出氣孔,、裂紋,、夾 雜和分層等缺陷,以波形,、圖形為顯示方式的一種無損檢測工具,。
![]() |
北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司 |
—— 銷售熱線 ——
13691111138 |
高頻超聲波掃描顯微鏡
FireEye-8 超聲掃描顯微鏡主要利用高頻的超聲波(5MHz 以上)檢測材料,、晶圓或半導(dǎo)體封裝 器件內(nèi)部的缺陷位置,、大小和分布狀態(tài)等,對(duì)粘接層面非常敏感,,能夠檢測出氣孔,、裂紋,、夾 雜和分層等缺陷,以波形,、圖形為顯示方式的一種無損檢測工具,,可以保留在破壞性檢測中被 丟失的細(xì)微缺陷,樣品通過檢測后可以繼續(xù)使用,;可通過對(duì)材料密度的分布檢測,,從而推導(dǎo)出 應(yīng)力場、裂紋變化趨勢等材料的力學(xué)性能,,在判別材料密度差異,、彈性模量、厚度等特性和幾 何形狀的變化方面也具有一定的能力,,主要用于對(duì)微電子,,航空航天領(lǐng)域的器件、組件和材料 進(jìn)行檢測,,實(shí)現(xiàn)失效分析,、可靠性分析、過程控制,、品質(zhì)控制,、產(chǎn)品研發(fā)、工藝提升等,。
圖 1 火眼 FireEye-8 超聲掃描顯微鏡
● 掃描軸采用線性電機(jī)閉環(huán)控制,高速靜音,,定位精度高,,能實(shí)現(xiàn)快速精確掃描,另外 其掃描范圍高達(dá) 400mm x 400mm,,不僅適用單個(gè)器件的快速掃描分析,,也可放置批量 器件同步掃描,配合自動(dòng)缺陷識(shí)別功能,,可快速篩選出不合格品,。
圖 2 掃描軸電機(jī)
● 分離式超聲波發(fā)射接收系統(tǒng),配備信號(hào)高,、低頻前置放大裝置,,高、低通濾波器,,保 證信號(hào)質(zhì)量,,所有參數(shù)均可通過計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行設(shè)置,超聲系統(tǒng)信號(hào)線進(jìn)行良好屏蔽, 可屏蔽內(nèi)外部噪音,,信噪比高,。
圖 3 超聲系統(tǒng)
● 采用的高速 A/D 數(shù)據(jù)采集卡支持雙通道內(nèi)存結(jié)構(gòu),板載緩存大,,支持?jǐn)?shù)據(jù)采集和處理 同步進(jìn)行,,極大提高了掃描效率,采樣頻率高達(dá) 1GSample/s,,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確還原,。
圖 4 高速 AD 采集卡 高頻芯片超聲波掃描顯微鏡
● 支持的超聲探頭頻率高,最高可達(dá) 300MHz,,其圖像分辨率可達(dá)幾微米,,另外由于其 超聲系統(tǒng)帶寬范圍廣:5-300MHz,適配的探頭頻率范圍大:5-300MHz,,可根據(jù)器件種 類靈活選用合適的超聲探頭,,取得*的檢測效果。
圖 5 超聲探頭
● 檢測模式豐富:A,、B,、C 掃描、體掃描,、多層掃描,、逐層掃描、離線分析,、JEDEC 托盤 掃描,,3D 成像等,可用圖像的方式顯示被測件內(nèi)部缺陷的位置,、形狀和大小,,在此基 礎(chǔ)上,,通過不同模式組合使用,,從不同
圖 6 檢測模式
● 系統(tǒng)配置有水路循環(huán)自凈過濾系統(tǒng),具備微米級(jí)水路循環(huán)過濾系統(tǒng),,保持水的清潔,。
● 系統(tǒng)具有安全門開關(guān)、限位保護(hù)和急停斷電功能,,保護(hù)人身安全,。
● X/Y 檢測范圍:400mm×400mm,;
● Z 方向聚焦行程:100mm,;
● 最大掃描速度:1000mm/s;
● 掃描軸最高分辨率:0.5μm;
● 重復(fù)精度:±1μm,;
● 脈沖發(fā)射,、接收器最高接收帶寬:5-300MHz;
● 換能器適配范圍:5-300MHz,;
● 高速數(shù)據(jù)采集卡(A/D 卡)采樣頻率:1GSample/s,;
● 設(shè)備主機(jī)尺寸:890mm(寬)* 1000mm(深)* 1300mm(高),;
● 電力供應(yīng):~220V±22V,,50Hz;
● 水源:設(shè)備需要去離子水,,定期更換,;
● 凈化間:建議 100000 級(jí)以上;
● 環(huán)境溫度:15℃ - 35℃,;
● 掃描模式:A 掃描、B 掃描,、C 掃描,、輪廓掃描,多層掃描,,相位掃描,,逐層掃描, 塊掃描模式,,托盤掃
描,, 離線分析,3D 掃描,,透射掃描(選配)等,;
● 掃描過程中 A 波形實(shí)時(shí)顯示,方便實(shí)時(shí)調(diào)整數(shù)據(jù)門,;
● 通過軟件設(shè)置掃描軌跡參數(shù),B,、C 掃描的起始位置可在掃描范圍內(nèi)任意設(shè)置;
● 系統(tǒng)具有開機(jī)自檢,、故障診斷和故障報(bào)警指示功能;
● 多層掃描模式支持高達(dá) 100 層同時(shí)掃描,;
● 高掃描圖像分辨率可達(dá) 10000 * 10000;
● 前表面跟隨功能,,在器件稍有不平整的情況下能正常完成掃描,;
● 正、負(fù),、全峰值圖像,、相位圖像,、TOF 圖像實(shí)時(shí)切換;
● 信號(hào)增益等參數(shù)均可在掃描過程中更改,,實(shí)時(shí)生效,;
● 自動(dòng)儲(chǔ)存設(shè)置參數(shù),支持提取掃描結(jié)果的參數(shù)設(shè)置,,方便二次掃描,,減少后期相 同器件的參數(shù)設(shè)置時(shí)間,
提升工作效率,;
● 通過相位掃描,,可實(shí)現(xiàn)缺陷自動(dòng)判別,缺陷尺寸和面積統(tǒng)計(jì),,自動(dòng)計(jì)算缺陷占測 量面積的百分比,,可對(duì)分
層缺陷進(jìn)行實(shí)時(shí)著色;
● 支持超過多個(gè)檢測結(jié)果圖像同時(shí)顯示,,并能重新進(jìn)行分析處理,;
● 系統(tǒng)可對(duì)材料聲阻抗、聲速進(jìn)行測量;
● 支持掃描結(jié)果進(jìn)行長度測量,,可實(shí)現(xiàn)樣品厚度測量,;
● 支持對(duì)掃描結(jié)果進(jìn)行文字注釋功能;
● 支持掃描圖像實(shí)時(shí)縮放功能,,方便觀測,;
● 強(qiáng)大的圖像處理軟件包:圖像的縮放、拖動(dòng),、測量注釋,、圖像的中值濾波,均值 濾波,,反色處理,,浮雕處
理,增強(qiáng)對(duì)比度,、增強(qiáng),、偽彩色等處理功能;
● 掃描結(jié)果可保存為:bmp,、jpg 圖像,,也可保存為帶掃描參數(shù)的 csam 文件,;
● 強(qiáng)大的自動(dòng)出報(bào)告功能,,支持一鍵掃描結(jié)果和 A 波形保存,方便檢測人員后期制 作檢測報(bào)告,。
六,、應(yīng)用領(lǐng)域
● 半導(dǎo)體器件及封裝
塑封 IC,、FipChip、芯片級(jí)封裝 CSP,、BGA(金屬,、塑封)、Molded Underfill (MUF),、混合多 芯片模組(MCM),、堆疊芯片成像(SDI)、分立器件,、IGBT 等大功率半導(dǎo)體器件等,;
● 晶圓
鍵合晶圓、MEMS,、LED,、BSI Sensors、 TSV 等,;
● 其他微電子 多層陶瓷電容(MLCC),、陶瓷封裝管殼、半導(dǎo)體電子制冷器,、航空航天組件等,;
● 材料檢測 金剛石復(fù)合片、陶瓷,、玻璃,、金屬、焊接件等,;
1、 塑封IC
2,、PBGA
3,、FlipChip
4、大功率整流器件55
5,、晶閘管和IGBT
6,、半導(dǎo)體制冷器
7、陶瓷電容
8,、封裝管殼
高頻超聲波掃描顯微鏡