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FireEye-8-高頻芯片超聲波掃描顯微鏡
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  • FireEye-8-高頻芯片超聲波掃描顯微鏡

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貨物所在地: 北京北京市
產(chǎn)地: 北京
更新時(shí)間: 2025-01-15 09:13:45
期: 2025年1月15日--2026年1月15日
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產(chǎn)品簡介

高頻芯片超聲波掃描顯微鏡
EYE-8 超聲掃描顯微鏡主要利用高頻的超聲波(5MHz 以上)檢測材料,、晶圓或半導(dǎo)體封裝 器件內(nèi)部的缺陷位置、大小和分布狀態(tài)等,,對(duì)粘接層面非常敏感,能夠檢測出氣孔,、裂紋,、夾 雜和分層等缺陷,以波形,、圖形為顯示方式的一種無損檢測工具,。

詳細(xì)介紹

高頻超聲波掃描顯微鏡


一、   概述

   FireEye-8 超聲掃描顯微鏡主要利用高頻的超聲波(5MHz 以上)檢測材料,、晶圓或半導(dǎo)體封裝 器件內(nèi)部的缺陷位置,、大小和分布狀態(tài)等,對(duì)粘接層面非常敏感,,能夠檢測出氣孔,、裂紋,、夾 雜和分層等缺陷,以波形,、圖形為顯示方式的一種無損檢測工具,,可以保留在破壞性檢測中被 丟失的細(xì)微缺陷樣品通過檢測后可以繼續(xù)使,;可通過對(duì)材料密度的分布檢測,,從而推導(dǎo)出 應(yīng)力場裂紋變化趨勢等材料的力學(xué)性能,,在判別材料密度差異,、彈性模量厚度等特性和幾 何形狀的變化方面也具有一定的能力,,主要用于對(duì)微電子,,航空航天領(lǐng)域的器件組件和材料 進(jìn)行檢測,,實(shí)現(xiàn)失效分析,、可靠性分析、過程控制,、品質(zhì)控制,、產(chǎn)品研發(fā)、工藝提升,。

產(chǎn)品圖片.jpg

     圖 1 火眼 FireEye-8 超聲掃顯微鏡


二,、   技術(shù)特點(diǎn)   高頻芯片超聲波掃描顯微鏡

  掃描軸用線性機(jī)環(huán)控制高速靜,,位精度,,能實(shí)現(xiàn)精確掃,另外 其掃描范圍高達(dá) 400mm x 400mm,,不僅適單個(gè)器件的快速掃描分析,,也可放置批量 器件同步掃描,配合自動(dòng)缺陷識(shí)別功能,,可快速篩選出不合格品,。

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     圖 2  掃描軸電機(jī)

  分離式聲波發(fā)統(tǒng)備信號(hào),、頻前置大裝置,,低通濾器,,保 證信號(hào)質(zhì),,所有參數(shù)均可通過計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行設(shè)置超聲系統(tǒng)信號(hào)線進(jìn)行良好屏蔽, 可屏蔽內(nèi)外部噪音,,信噪比高,。

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       圖 3  超聲系統(tǒng)

  采用高速 A/D 數(shù)據(jù)采集卡支持雙通道內(nèi)存結(jié)構(gòu),板載緩存大,,支持?jǐn)?shù)據(jù)采集和處理 同步進(jìn)行,,極大提高了掃描效率,采樣頻率高達(dá) 1GSample/s,,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確還原,。


 

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        圖 4  高速 AD 采集卡   高頻芯片超聲波掃描顯微鏡

 支持的聲探頻率,最高可達(dá) 300MHz,,其圖像辨率達(dá)幾米,,另由于其 超聲系統(tǒng)帶寬范圍廣5-300MHz適配的探頭頻率范圍大5-300MHz,,可根據(jù)器件種 類靈活選用合適的超聲探頭,,取得*的檢測效果。

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        圖 5  超聲探頭

 檢測模式豐富A,、B,、C 掃描體掃描,、多層掃描,、逐層掃描離線分析,、JEDEC 托盤 掃,,3D 成像等可用圖像的方式顯示被測件內(nèi)部缺陷的位置,、形狀和大小,,在此基 礎(chǔ)上,,通過不同合使用,,從不同

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圖 6  檢測模式

          統(tǒng)配置有水路循環(huán)自凈過濾系統(tǒng),具備微米級(jí)水路循環(huán)過濾系統(tǒng),,保持水的清潔,。

          系統(tǒng)具安全門開關(guān)、限位保護(hù)和急停斷電功能,,保護(hù)人身安全,。


三、   設(shè)備主要性能指標(biāo)

  X/Y 檢測范圍:400mm×400mm,;

  Z 方向聚焦行程:100mm,;

  最大掃描速度:1000mm/s;

  掃描軸最高分辨率:0.5μm;

  重復(fù)精度:±1μm,;

  脈沖發(fā)射,、接收器最高接收帶寬:5-300MHz;

  換能器適配范圍:5-300MHz,;

 高速數(shù)據(jù)采集卡(A/D 卡)采樣頻率:1GSample/s,;


四、   安裝條件

  設(shè)備主機(jī)尺寸:890mm(寬)* 1000mm(深)* 1300mm(高,;

  電力供應(yīng):~220V±22V,,50Hz

 水源:設(shè)備需要去離子水,,定期更換,;

  凈化間:建議 100000 級(jí)以上;

 環(huán)境溫度:15℃ - 35,;


五,、   主要軟件功能

              掃描模式:A 掃描、B 掃描,、C 掃描,、輪廓掃描,多層掃描,,相位掃描,,逐層掃描, 塊掃描模式,,托盤掃

                   描,,   離線分析,3D 掃描,,透射掃描(選配)等,;

 掃描過程中 A 波形實(shí)時(shí)顯示,方便實(shí)時(shí)調(diào)整數(shù)據(jù)門,;

  通過軟件設(shè)置掃描軌跡參數(shù),B,、C       掃描的起位置可在掃描范圍內(nèi)任意設(shè)置;

 系統(tǒng)具有開機(jī)自檢,、故障診斷和故障報(bào)警指示功能;

 多層掃描模式支持高達(dá) 100 層同時(shí)掃描,;

 高掃描圖像分辨率可達(dá) 10000 * 10000;

  前表面跟隨功能,,在器件稍有不平整的情況下能正常完成掃描,;

  正、負(fù),、全峰值圖像,、相位圖像,、TOF     圖像實(shí)時(shí)切換;

  信號(hào)增益等參數(shù)均可在掃描過程中更改,,實(shí)時(shí)生效,;

  自動(dòng)儲(chǔ)存設(shè)置參數(shù),支持提取掃描結(jié)果的參數(shù)設(shè)置,,方便二次掃描,,減少后期相 同器件的參數(shù)設(shè)置時(shí)間,  

    提升工作效率,;

 通過相位掃描,,可實(shí)現(xiàn)缺陷自動(dòng)判別,缺陷尺寸和面積統(tǒng)計(jì),,自動(dòng)計(jì)算缺陷占量面積的百分比,,可對(duì)分  

     層缺陷進(jìn)行實(shí)時(shí)著色;

  支持超過多個(gè)檢測結(jié)果圖像同時(shí)顯示,,并能重新進(jìn)行分析處理,;

  系統(tǒng)可對(duì)材料聲阻抗、聲速進(jìn)行測量;

  支持掃描結(jié)果進(jìn)行長度測量,,可實(shí)現(xiàn)樣品厚度測量,;

  支持對(duì)掃描結(jié)果進(jìn)行文字注釋功能;

  支持掃描圖像實(shí)時(shí)縮放功能,,方便觀測,;

  強(qiáng)大的圖像處理軟件包:圖像的縮放、拖動(dòng),、測量注釋,、圖像的中值濾波,均值 濾波,,反色處理,,浮雕處  

    理,增強(qiáng)對(duì)比度,、增強(qiáng),、偽彩色等處理功能;

掃描結(jié)果可保存為:bmp,、jpg 圖像,,也可存為帶掃描參數(shù)的 csam 文件,;

 強(qiáng)大的自動(dòng)出報(bào)告功能,,支持一鍵掃描結(jié)果和 A 波形保存,方便檢測人員后期制 作檢測報(bào)告,。


六,、應(yīng)用領(lǐng)域

          導(dǎo)器件封裝

塑封 IC,、FipChip級(jí)封裝 CSP,、BGA,、塑封Molded Underfill (MUF),、混合多 芯片模組(MCM,、疊芯片成像(SDI、分立器件,、IGBT 等大功率半導(dǎo)體器件等,;

          晶圓

鍵合晶圓MEMS,、LED,、BSI Sensors、 TSV 等,;

   ●   電子 多層陶瓷電MLCC,、陶瓷封裝管殼、半導(dǎo)體電子制冷器,、航空航天組件等,;

   ●   材料檢測 金剛石復(fù)合片、陶瓷,、玻璃,、金屬、焊接件等,;


七,、   應(yīng)用案例

      1、 塑封IC

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     2,、PBGA

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       3,、FlipChip

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  4、大功率整流器件55

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      5,、晶閘管和IGBT


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   6,、半導(dǎo)體制冷器

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 7、陶瓷電容

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       8,、封裝管殼

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高頻超聲波掃描顯微鏡








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