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產品簡介
GEM50-83-LB-C-HJ高純鍺探測器
半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率,，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅是核結構,、分子物理,、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具
半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率,，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅是核結構,、分子物理,、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具
詳細介紹
GEM-S8530-108-LB-C-HJ高純鍺探測器
半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品,，不僅是核結構,、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具,，而且在核電,、環(huán)境、檢驗檢疫,、生物醫(yī)學,、天體物理與化學、地質,、法學,、考古學、冶金和材料科學等諸多科學與社會領域得到了越來越廣泛的應用,。
四十多年來,，ORTEC 探測器種類不斷豐富、性能不斷提高，在探測效率上,，能提供相對效率200%的P型同軸探測器、175%效率的P型優(yōu)化（“寬能”）同軸探測器和*效率的N型探測器,。
一,、 探測器機理與各指標的簡要意義
放射性核素產生的γ光子和X射線，其能量一般在keV至MeV范圍,。由于其不帶電荷,，通過物質時不能直接使物質產生電離，不能直接被探測到,，因此γ和X射線的探測主要依賴于其通過物質時與物質原子相互作用,，并將全部或部分光子能量傳遞給吸收物質中的一個電子。這種相互作用表現出光子的突變性和多樣性,，在吸收物質中主要產生三種不同類型的相互作用：光電效應,、康普頓效應或電子對效應，而產生的次級電子（光電子）再引起物質的電離和激發(fā),，形成電脈沖流,，電脈沖的幅度正比于γ和X射線的能量。三種效應中,，光電效應中γ光子把全部能量傳遞給光電子而產生*峰,，是譜儀系統(tǒng)中用于定性定量分析的主要信號；而康普頓效應和電子對效應則會產生干擾,，應盡可能予以抑制,。
在譜儀中，探測器（包括晶體,、高壓和前置放大器）實際上是一個光電轉換器,，將光子的能量轉變成幅度與其成正比的電脈沖。然后通過譜儀放大器將該脈沖成形并線性放大,，再送入模數變換器即ADC中將輸入信號根據其脈沖幅度轉變成一組數字信號,，并將該數字信號送入多道計算機數據獲取系統(tǒng)，由相關軟件形成譜圖并進行分析,。
GEM-S8530-108-LB-C-HJ高純鍺探測器
以下簡要闡明所涉及的相關物理概念：
1,、相對效率、效率與實際效率
相對探測效率（即標稱效率）的定義：按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,，Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處,，對1.33MeV能量峰，半導體探測器與3"×3" NaI探測器計數率的比值,，以%表示,。效率：Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處，1.33MeV能量峰處所產生的實際探測效率（3"×3"NaI探測器,，此效率為0.12%）,。實際探測效率：取決于感興趣核素所在能量峰,、探測器的晶體結構、實際樣品的形狀,、體積及探測器與樣品間的相對位置關系等因素,。
針對低活度樣品的測量，通過提高實際探測效率以提高測量靈敏度是選擇探測器的出發(fā)點,。
2,、 能量分辨率（FWHM）：探測器或系統(tǒng)對不同能量γ和X射線在探測中的分辨能力，通常以半高寬（FWHM,，*峰高度一半處所對應的能量寬度）表示,。比如對于1.33MeV能量峰，按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,，Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處,，在計數率為1kcps時的*半高寬。由于高純鍺探測器的分辨率本身已經相當精銳,，除了在中子活化,、超鈾元素分析等少數應用中，能量分辨率已不是首要考慮的因素,。更加實際的分辨率問題是在高計數率和計數率動態(tài)變化（如中子活化,、裂變產物、在線監(jiān)測,、現場測量）情況下,，如何保證分辨率盡可能的穩(wěn)定。
3,、 康普頓效應與峰康比
γ光子與探測器中的半導體原子的電子相互作用時,，將部分能量傳遞給電子，剩余能量的γ光子以一定的角度散射出去,，成為康普頓散射,。康普頓效應的結果會導致在低能部分的*峰下方形成康普頓坪,，成為相關能量峰的本底或甚至淹沒此能量峰,。
峰康比：對1.33MeV能量峰，指其*峰的中心道計數與1.040MeV至1.096MeV區(qū)間內康普頓坪的平均道計數之比,。
4,、 峰形
表征*峰對稱性之指標，通常以FTWH（十分之一全高寬）與FWHM（半高寬）之比表示,。為嚴格定義峰形,，ORTEC對部分探測器同時提供F.02WH（五十分之一全高寬）與FWHM（半高寬）之比。
二、 ORTEC所有同軸探測器全面嚴格保證能量分辨率,、峰康比和峰形指標,。
1、ORTEC HPGe與Si（Li）探測器的分類與特點：
GEM系列: P型同軸HPGe探測器
GEM Profile系列: P型優(yōu)化同軸HPGe探測器
- 同一型號的探測器采用相同的晶體結構和尺寸,，從而保證了相當*的效率曲線,；
- GEM-M系列：專門設計適用于馬林杯狀樣品的測量，探測器端窗直徑與晶體有效厚度*,；
- GEM-F系列：采用扁平結構晶體（直徑>長度），對于濾紙,、濾膜等薄層樣品的測量能獲得的實際探測效率,；
- GEM-FX系列：有著-F系列類似的晶體結構，但采用超薄的接觸極和碳纖維端窗,，能量響應范圍10keV至10MeV,；還可作為超鈾元素測量的理想選擇；提供15%,，20%和50%三種探測效率選擇,；
- GEM-MX系列：結合-M與-FX工藝，能量響應范圍10keV-10MeV,，尤其適合于馬林杯狀樣品,；提供38%, 66%，115%和175%四種效率選擇,；
- GEM-FX與GEM-MX在整個10keV至10MeV（“寬能”）的能量范圍內都有十分優(yōu)異的能量分辨率,，從指標與實用意義上實現了傳統(tǒng)P型與N型探測器的“優(yōu)勢組合”。
Actinide-85: 肺部計數HPGe探測器：
采用GEM-FX8530探測器工藝,，用于肺部計數探測器,；采用超低本底冷指材料和整體碳纖維封裝結構。
SLP系列: X-射線Si(Li)探測器：
用于X-射線能譜測量,；能量響應范圍1keV至30keV,；有效面積12.5至200mm2。
對于700keV以下的能量峰,，120cc體積的井式探測器已能很好的滿足探測效率的要求,，增大探測器體積并沒有太多的實際意義。
2,、探測器的附屬選項及其意義
