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EIGER2 R CdTe混合像素光子計數(shù)X射線探測器

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更新時間:2025-02-08 13:04:03瀏覽次數(shù):1125

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產(chǎn)品簡介

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,鋼鐵/金屬,航空航天    
EIGER2 R CdTe混合像素光子計數(shù)X射線探測器

EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數(shù)探測器的新發(fā)展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設(shè)置時,, EIGER2 R CdTe 1M 是好的選擇,。

詳細(xì)介紹

EIGER2 R CdTe混合像素光子計數(shù)X射線探測器 

 

1,、產(chǎn)品特點:    

      EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數(shù)探測器的新發(fā)展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設(shè)置時,, EIGER2 R CdTe 1M 是的選擇,。

     DECTRIS 公司的即時觸發(fā)技術(shù)使他們具有高計數(shù)率能力,可以更好地測量實驗室X射線源 所能達到的高強度,。DECTRIS 公司的即時觸發(fā)的技術(shù)使 EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有的高計 數(shù)率能力,,可以更快速地測量實驗室 X 射線光源所能達到的高強度。EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有兩個能 量閾值,,所以與上一代探測器相比,,它在環(huán)境背景下?lián)碛懈偷陌惦娏骱捅尘霸胍簟_@大大提高了弱信號和長 時間曝光的信噪比,,使得它在更短的測量時間下就能獲得更好的數(shù)據(jù)質(zhì)量,。單光子計數(shù)與計數(shù)器連續(xù)讀/寫技術(shù) 相結(jié)合,克服了傳統(tǒng)積分探測器容易飽和以及動態(tài)范圍有限的問題,。此外,,感光像素直接將X射線轉(zhuǎn)化為電信號 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率,。

 

2、核心優(yōu)勢:

       – 高的量子效率,、更短的測試時間和更高質(zhì)量的數(shù)據(jù)

       – 即時觸發(fā)技術(shù)使得計數(shù)率大幅度提高

       – 雙能閾值,,可用于低背景和高背景的抑制

       – 無讀出噪音和暗電流,確保了好的信噪比

       – 計數(shù)器具有同時讀/寫功能,,確保了高動態(tài)范圍和無飽和的圖像

 

3,、應(yīng)用領(lǐng)域:

       - 大分子晶體學(xué)(MX);

       - 化學(xué)結(jié)晶學(xué),;

       - 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS),;

       - μCT;

       - 其它,;

     

 

4,、技術(shù)參數(shù)

EIGER2 R CdTe

500K

1M

4M

探測器模塊數(shù)量

1

1 x 2

2 x 4

有效面積:寬x高 [mm2]

77.1 x 38.4

77.1 x 79.7

155.1 X 162.2

像素大小 [μm2]

75 x 75

點擴散函數(shù)

1 pixel

能量閾值

2

能量范圍[KeV]

8-24.2

閾值范圍[KeV]

4-30

大計數(shù)率(cps/mm2

9.8×108

計數(shù)器深度(bit/threshold)

2×16

采集模式

同時讀/寫,死區(qū)時間為零

圖像位深度(bit)

32

可選真空兼容

Yes

冷卻方式

 水冷

尺寸(WHD)[mm3]

114 x 92 x 242

114 x 133 x 242

235 x 237 x 372

重量 [kg]

3.7

3.9

15

 EIGER2 R CdTe混合像素光子計數(shù)X射線探測器

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