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介損測試儀資料

閱讀：606 發(fā)布時間：2013-7-2

介損測試儀資料

介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下,，測量各種絕緣材料,、絕緣套管、電力電纜,、電容器,、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗,，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋,，具有操作簡單、中文顯示,、打印,、使用方便、無需換算,、自帶高壓,、抗干擾能力強、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快）等特點,。體積小,、重量輕是我公司的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。
介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)
      1,、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）
      2,、相對濕度：30% ～ 70%
      3、供電電源：電壓：220V±10%,、頻率：50±1Hz
      4,、外形尺寸：長×寬×高   500mm×300mm×400mm
      5、重量：    約18Kg
      6,、輸出功率：0.6KVA
      7,、顯示分辯率：3位,、4位（內(nèi)部全是6位）
      8、測量范圍及輸出電壓選擇：
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
                 試品電容容量（Cx）和加載電壓：
                 2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF）
                 5KV檔:≤76nF（76000pF）                7.5KV檔:≤34nF（34000pF）
                 10KV檔:≤20nF（20000pF）
      9,、基本測量誤差：
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）
                 電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF