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GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)設(shè)備中的定義:試驗(yàn)箱穩(wěn)定狀態(tài)下,,工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測gao溫度和低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)技術(shù)條件中的定義:穩(wěn)定后,,在任意時(shí)間間隔內(nèi),工作空間中心溫度的平均值,,和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度的平均值之差,。
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范中定義:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,,顯示溫度平均值與工作空間中心店實(shí)測溫度平均值的差值,。
GJB 5020-2003 溫度、濕度,、振動(dòng)綜合試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)方法:無定義,,計(jì)算方法與GB/T 5170.2相同,但取大值為溫度偏差,。
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