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詳細介紹
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | 咸陽威思曼(國產(chǎn)) |
| Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產(chǎn)） | spellman(進口) |
| Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進口) |
產(chǎn)品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層,，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv,，50W,，側窗類；
光管靶材：Mo靶,；
濾光片：3種自動切換,；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準直器：Ø1mm,，Ø2mm,，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產(chǎn)品介紹：
Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),，測量精度和測量結果業(yè)界,。
采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求,。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設計在殼體外部,，觀察移動位置簡單方便,。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,，無損,、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障,。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,，測試結果經(jīng)得起科學驗證,。
樣品移動設計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷,，有助于提升效率,。
設計更科學，軟硬件配合,，機電聯(lián)動,，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限,，一般操作員,、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱,。
Ux-720標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現(xiàn)全自動一鍵操作功能,，準直器自動切換，濾光片自動切換,，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照,、自動保存,，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存
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