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【華高儀器】日本電子掃描電鏡JSM-IT800產(chǎn)品介紹
閱讀:427 發(fā)布時間:2024-9-4
華高儀器于2024年9月24日09:35發(fā)布了文章【日本電子掃描電鏡JSM-IT800產(chǎn)品介紹】,。作為在儀器設(shè)備行業(yè)服務(wù)了多年的經(jīng)銷商,,華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團隊以及售后服務(wù)人員,,在采購前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購方案以及及時響應(yīng)的售后服務(wù),。
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概述
日本電子株式會社(JEOL Ltd.)作為電子顯微鏡領(lǐng)域的制造商,近年來不斷推出創(chuàng)新產(chǎn)品以滿足科研和工業(yè)領(lǐng)域的多樣化需求,。其中,,JSM-IT800熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)是JEOL在2020年推出的新一代高性能設(shè)備,它繼承了JEOL系列掃描電鏡的大束流,、高穩(wěn)定性的優(yōu)良傳統(tǒng),,并將分辨率提升至新的極限。JSM-IT800以其性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,,成為材料科學(xué)研究,、環(huán)保,、化工、能源及電子等領(lǐng)域的理想選擇,。
核心特點
高分辨率成像
JSM-IT800配備了浸沒式肖特基Plus場發(fā)射電子槍,,結(jié)合新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine,實現(xiàn)了超高分辨率的成像能力,。其二次電子圖像分辨率在15kV加速電壓下可達0.5nm,,即使在1kV的低加速電壓下也能達到0.7nm的分辨率。這一特性使得JSM-IT800在觀察納米尺度材料結(jié)構(gòu)時具有優(yōu)勢,。
強大的分析功能
除了高分辨率成像外,,JSM-IT800還集成了一體化X射線能量色散譜儀(EDS),能夠?qū)崟r顯示圖像和成分信息,,無需模式切換,,大大提高了分析效率。此外,,該設(shè)備還支持電子背散射衍射(EBSD)分析,,為材料科學(xué)研究提供了全面的分析手段。
靈活的物鏡模塊
JSM-IT800提供了多種物鏡模塊供用戶選擇,,包括混合型物鏡(HL),、超級混合物鏡(SHL/SHLs)以及新開發(fā)的半浸沒式物鏡(i/is)。這些物鏡模塊能夠滿足不同用戶在不同應(yīng)用場景下的需求,,從通用FE-SEM到高分辨率觀察和分析,,再到半導(dǎo)體器件的故障分析,JSM-IT800都能提供解決方案,。
創(chuàng)新的Neo Engine系統(tǒng)
Neo Engine是JEOL最新開發(fā)的電子光學(xué)控制系統(tǒng),,它集成了JEOL多年的核心技術(shù),能夠在調(diào)整各種參數(shù)的同時進行穩(wěn)定的觀察,。該系統(tǒng)還具備增強的自動功能,,使得操作更加簡便。配合操作導(dǎo)航“SEM Center",,用戶可以輕松實現(xiàn)一鍵聚焦合軸,,大大提高了設(shè)備的易用性。
優(yōu)秀的探測器系統(tǒng)
JSM-IT800配備了多種先進的探測器,,包括Inlens探頭和UHD探頭,,這些探測器能夠高信噪比地進行二次電子成像,對表面精細(xì)結(jié)構(gòu)更加靈敏,。同時,,設(shè)備還支持新型閃爍體背散射電子探測器(SBED)和多功能背散射電子探測器(VBED),SBED能夠在低加速電壓下獲取清晰的成分襯度圖像,而VBED則能夠獲取3D,、形貌和成分襯度的圖像,。
應(yīng)用領(lǐng)域
JSM-IT800憑借其性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,在納米技術(shù),、金屬,、半導(dǎo)體、陶瓷,、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,。無論是材料科學(xué)研究中的高分辨率成像和成分分析,還是生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量控制和產(chǎn)品檢驗,,JSM-IT800都能提供快速,、高質(zhì)量的數(shù)據(jù)采集和無縫的分析操作。
總結(jié)
日本電子掃描電鏡JSM-IT800作為JEOL公司的新一代高性能設(shè)備,,憑借其高分辨率成像,、強大的分析功能、靈活的物鏡模塊,、創(chuàng)新的Neo Engine系統(tǒng)以及優(yōu)秀的探測器系統(tǒng),,在科研和工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出了強大的競爭力。無論是材料科學(xué)家還是工業(yè)質(zhì)檢人員,,都能從JSM-IT800中受益,,實現(xiàn)更加精準(zhǔn)、高效的分析和研究工作,。
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