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今日?qǐng)?bào)道@超聲掃描顯微鏡系列和伍超聲探傷儀C400
閱讀:648 發(fā)布時(shí)間:2023-5-9
據(jù)宣傳部2023年5月9日?qǐng)?bào)道,,@超聲掃描顯微鏡系列和伍超聲探傷儀C400產(chǎn)品咨詢,,技術(shù)參數(shù),,購(gòu)買(mǎi)指南!
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產(chǎn)品概述:
超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備,,主要利用高頻超聲波,,對(duì)各類(lèi)半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè),,能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔,、裂紋、夾雜和分層等缺陷,,并以圖形的方式直觀展示,。在掃描過(guò)程中,不會(huì)對(duì)樣品造成損傷,,不會(huì)影響樣品性能,,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體,、電力電子,、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料,、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求,。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、 具備A(點(diǎn)掃描),、B(縱向掃描),、C(橫向掃描),Tray-托盤(pán)掃描等系列掃描模式,。
2,、 具備定量測(cè)分析功能,以圖像方式直觀顯示被測(cè)件內(nèi)部缺陷的位置,、形狀和大小,,并進(jìn)行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計(jì),自動(dòng)計(jì)算缺陷占所測(cè)量面積的百分比,;具備缺陷尺寸標(biāo)識(shí),;厚度與測(cè)距等功能。
3,、 適用于單個(gè)器件的快速掃描分析,,也可批量放置樣品同步進(jìn)行缺陷識(shí)別,快速篩選出不合格品,。
4,、 可兼容1~25MHz的超聲探頭。
5,、 檢測(cè)軟件自主研發(fā),,中英文界面,可根據(jù)客戶需求對(duì)功能進(jìn)行持續(xù)升級(jí),。