詳細(xì)介紹
高低溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,,以及其原器件,,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸,、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫,、高溫,、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,,測(cè)試后,,通過檢測(cè),,來判斷產(chǎn)品的性能,,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì),、改進(jìn),、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則