產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
圖1 光滑表面缺陷的自動(dòng)化檢測系統(tǒng)外型圖(配百級(jí)超凈工作臺(tái))
光滑表面缺陷的自動(dòng)化檢測系統(tǒng)是利用光學(xué)顯微散射暗場成像技術(shù)與*的基于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的數(shù)字圖像處理算法結(jié)合研制的新穎非接觸的檢測設(shè)備。系統(tǒng)具有環(huán)形分布的光源可以采集任意方向疵病的CCD圖像,;利用光學(xué)顯微散射暗場成像可以達(dá)到對(duì)被測缺陷實(shí)現(xiàn)微米量級(jí)的分辨率,;精密的二維掃描系統(tǒng)與數(shù)字圖像處理算法結(jié)合可以實(shí)現(xiàn)對(duì)大口徑表面缺陷完成子孔徑掃描和拼接,;采用二元光學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)板定標(biāo)程序及可以實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷如劃痕幾何尺寸的定量檢測并精確確定光滑表面上每個(gè)缺陷的幾何參數(shù)的方位,,終自動(dòng)輸出缺陷檢測報(bào)告。該系統(tǒng)是浙江大學(xué)光電系現(xiàn)代光學(xué)儀器重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室楊甬英等教授集多年基礎(chǔ),、數(shù)年攻關(guān)完成的目前*臺(tái)可以對(duì)各種光滑的光學(xué)元件和金屬表面的各種劃痕,、麻點(diǎn)、碎邊等疵病實(shí)現(xiàn)高分辨率,、快速,、數(shù)字化定量檢測的*的高科技設(shè)備,可有效解決人為的目視觀察評(píng)估由于主觀因素介入導(dǎo)致檢測的準(zhǔn)確度低,,效率低的難題,。系統(tǒng)可以應(yīng)用于高精度的光學(xué)元件、激光器諧振腔,、微光元件,、光滑的金屬及硅片表面,、手機(jī)外殼、微縮文字等各類表面缺陷的檢測和文字校驗(yàn),。
儀器技術(shù)指標(biāo):
1. 被檢缺陷樣品的檢測口徑:50mm×50mm~100mm×100mm,,更大口徑可由用戶提出研制;
2. 缺陷檢測分辨率:小可達(dá)微米量級(jí),;
3. 檢測的缺陷幾何特征:各種劃痕,、麻點(diǎn)、破邊等,、文字缺損校驗(yàn),;
4. 照明及成像系統(tǒng):環(huán)形均勻光源照明系統(tǒng)、0.7×~4.5×變倍顯微鏡成像系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)顯微散射暗場成像,;
5. 檢測方法:計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制二維移導(dǎo)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)光滑表面的子孔徑掃描,;
6. 標(biāo)準(zhǔn)評(píng)價(jià):利用二元光學(xué)制作標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)板定量評(píng)估;
7. 儀器檢測精度:幾何長度相對(duì)誤差優(yōu)于2%,、劃痕寬度誤差控制在微米量級(jí),;
8. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng):科學(xué)級(jí)CCD相機(jī),空間分辨率約1K×1K左右或更高,。
9. 自動(dòng)化評(píng)估軟件要求:
- 全口徑子孔徑掃描控制,、圖像匹配拼接、圖像數(shù)據(jù)處理軟件,;
- 二元光學(xué)制作標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)板數(shù)據(jù)庫及評(píng)估系統(tǒng),;
- 全口徑表面缺陷分布及類型的數(shù)據(jù)輸出;
- 微縮文字缺損校驗(yàn)評(píng)估,;
- 軟件具有友好的人機(jī)交互圖形工作界面,,工作于Windows2000以上平臺(tái)。
應(yīng)用范圍:
本系統(tǒng)可應(yīng)用于高科技的光學(xué),、材料,、微電子等國民經(jīng)濟(jì)諸多領(lǐng)域:
1. 系統(tǒng)可以應(yīng)用于高精度的光學(xué)元件、激光器諧振腔,、微光元件等光滑的光學(xué)元件表面的任意方向缺陷如各種劃痕,、麻點(diǎn)、碎邊進(jìn)行非接觸的數(shù)字化定量檢測,,并實(shí)時(shí)輸出檢測報(bào)告,。
2. 系統(tǒng)可以對(duì)光滑的金屬及硅片表面的疵病進(jìn)行非接觸的數(shù)字化定量檢測,并實(shí)時(shí)輸出檢測報(bào)告,。
3. 系統(tǒng)可以對(duì)光滑的手機(jī)外殼,、高精度的液晶屏進(jìn)行表面的劃痕、麻點(diǎn)實(shí)現(xiàn)數(shù)字化定量檢測。
4. 對(duì)各種精密的具有微縮文字的光滑表面實(shí)現(xiàn)文字的缺損檢測,。
圖2是對(duì)一光滑的光學(xué)元件表面缺陷進(jìn)行圖像預(yù)處理后的軟件界面,。
圖3是自動(dòng)化顯示該元件表面缺陷位置及對(duì)缺陷信息編號(hào)的界面。
圖4 是自動(dòng)化輸出缺陷(劃痕)信息報(bào)告的界面,。
圖2 光滑表面缺陷圖像預(yù)處理后的軟件界面
圖3 自動(dòng)化顯示缺陷位置及對(duì)缺陷信息編號(hào)的界面
圖4 自動(dòng)化輸出缺陷(劃痕)信息報(bào)告
部分訂制清單:
1 | 4K高速線陣相機(jī) | Zer-OSC-01 | Resolution 4K,;4 Lines 疊加或獨(dú)立成像; 敏感波長范圍介于500nm至650nm之間,; 支持大掃描頻率200kHz,;單色, 單相元大小10.56μm,。 |
2 | 高分辨率高速相機(jī) | Zer-OSC-21 | 像素:500萬(2500x2000),, 探測面積:6X4.5mm, 波長范圍:500-1100nm,, 大采集速度:60幀/S,,USB3.0傳輸。 |
3 | 成像鏡頭 | Zer-OSM-01 | 同軸高分辨成像鏡頭,,500萬分辨率,, 工作距100mm; |
4 | 二維精密導(dǎo)軌 | Zer-100x100 | 行程:100x100mm,,重復(fù)定位精度:1um,, 分辨率:0.5um,大速度:20mm/s |
5 | 六維電控調(diào)節(jié)臺(tái) | Zer-6-003 | 調(diào)節(jié)維度:XYZ平移,,XYZ旋轉(zhuǎn),, 平移行程:10mm, 重復(fù)定位精度:300nm,,分辨率:50nm,, 大速度:5mm/s,旋轉(zhuǎn)角度范圍+/-2°,, 重復(fù)定位精度:0.01°,,分辨率:0.005°。 |
6 | 高亮照明光源 | Zer-OSL-01 | 高均勻性同軸光源,,同軸偏差小于2°,, 出光尺寸40X40,,大照度優(yōu)于50WLX |
7 | 照明用漫射板 | Zer-DF-64 | 透射度30%,、50%、70%可定 |
8 | 大功率數(shù)字控制器 | Zer-OSLD-01 | 256級(jí)亮度控制,;支持RS232通信,; 支持手動(dòng)調(diào)節(jié)及掉電保護(hù); 支持頻率介于10KHZ高頻控制。 |
9 | 面陣用高亮照明光源 | Zer-OSL-02 | 高均勻性同軸光源,,同軸偏差小于2°,, 出光尺寸60X60;大照度優(yōu)于50WLX |