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揚(yáng)州拓普電氣科技有限公司提供的BC2690B抗干擾介質(zhì)損耗測試儀詳情說明
儀器概述
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器,，用于工頻高壓下,，測量各種絕緣材料、絕緣套管,、電力電纜,、電容器、互感器,、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗,，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單,、中文顯示,、打印、使用方便,、無需換算,、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng),、測試時間快等特點,。體積小,、重量輕是我廠的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。
技術(shù)指標(biāo)
1,、環(huán)境溫度：0 ～40℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）
2,、相對濕度：30%～70%
3、供電電源：電壓：220V±10%,、頻率：50±1Hz
4,、外形尺寸：長×寬×高 500mm×300mm×400mm
5,、重量：約18Kg
6,、輸出功率：0.6KVA
7、顯示分辯率：3位,、4位（內(nèi)部全是6位）
8,、測量范圍及輸出電壓選擇：
介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
試品電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基本測量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字(加載電流20uA～500mA)
介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字(加載電流5uA～20uA)
電容容量(Cx)：1.5%±1.5pF
信息整理：抗干擾介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠家揚(yáng)州拓普電氣科技有限公司
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