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當(dāng)前位置：深圳市深東金儀器有限公司>>技術(shù)文章>>普通LCR測(cè)試儀的使用方法
用LCR測(cè)試儀來(lái)測(cè)量零部件的參數(shù)時(shí)，其關(guān)鍵問(wèn)題在于測(cè)量誤差,。首先是LCR測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各種各樣的原因,，而與試樣的連接所引起的誤差,，就是其中之一。由于LCR測(cè)試儀的型號(hào)不同,，可能的連接方法也會(huì)有區(qū)別,，在此我們整理一下五種連接方法的各自特點(diǎn)。一般來(lái)說(shuō),，連接方法越麻煩,，越能準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)量。
無(wú)源元件：電容器,、電感器,、磁芯、電阻器,、變壓器,、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。
半導(dǎo)體元件：電容器,、電感器,、磁芯、電阻器,、變壓器,、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。
其它元件：印制電路板,、繼電器,、開(kāi)關(guān)、電纜,、電池等的阻抗評(píng)估,。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估,。
磁性材料：鐵氧體,、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性,。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù),、彈性常數(shù)等C-V特性。
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